申请/专利权人：联合仪器(武汉)有限公司

申请日：2023-07-31

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN220709203U

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28;G01R13/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权

摘要：本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种翻盖式芯片测试机，包括测试机，所述测试机的上表面转动连接有卡盖，所述测试机的上表面位于所述卡盖的侧边固定连接有测试架，所述测试机通过所述测试架卡合连接有芯片，所述卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测试板，使得芯片在通过测试机进行测试时，可以将芯片直接放置于测试架的外表面，再观察电流表的电流通过情况，以此判断芯片是否能够正常使用，其次在卡盖的内壁中固定连接有一号测试板和二号测试板，使得卡盖内壁的一号测试板和二号测试板能够对不同型号的芯片进行限位波率测试，再由示波器进行显示观察，以此到达对芯片简便快速测试的目的。

主权项：1.一种翻盖式芯片测试机，包括测试机6，其特征在于：所述测试机6的上表面转动连接有卡盖1，所述测试机6的上表面位于所述卡盖1的侧边固定连接有测试架7；所述测试机6通过所述测试架7卡合连接有芯片9，所述卡盖1的内壁中固定连接有一号测试板2和二号测试板3，所述卡盖1的上表面位于所述测试架7的侧边固定连接有电流表10，所述卡盖1的上表面位于所述电流表10的侧边固定连接有示波器11。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 联合仪器(武汉)有限公司 一种翻盖式芯片测试机

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