申请/专利权人：南京恒高光电研究院有限公司

申请日：2023-04-26

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848666A

主分类号：G01M11/00

分类号：G01M11/00;G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明涉及光纤性能测试技术领域，具体公开了一种保椭圆光纤的圆与线双折射之比的测量装置和方法，包括1310nm波段光源阵列组件、光路组件和监测组件，光路组件与1310nm波段光源阵列组件光纤连接，监测组件与光路组件光纤连接，1310nm波段光源阵列组件包括N×1光开关、N个1310波段的不同波长的激光器、电流控制器和温度控制器，N个1310波段的不同波长的激光器分别与N×1光开关光纤连接，电流控制器和温度控制器分别与N个1310波段的不同波长的激光器电气连接。通过对保椭圆光纤在不同波长下的相位差和不动点的测量，实现在1310nm波段下保椭圆光纤圆与线双折射比和拍长的测量，用以评估被测保椭圆光纤的性能。

主权项：1.一种保椭圆光纤的圆与线双折射之比的测量装置，其特征在于，包括1310nm波段光源阵列组件、光路组件和监测组件，所述光路组件与所述1310nm波段光源阵列组件光纤连接，所述监测组件与所述光路组件光纤连接，所述1310nm波段光源阵列组件包括N×1光开关、N个1310波段的不同波长的激光器、电流控制器和温度控制器，所述N个1310波段的不同波长的激光器分别与所述N×1光开关光纤连接，所述电流控制器和所述温度控制器分别与所述N个1310波段的不同波长的激光器电气连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京恒高光电研究院有限公司 保椭圆光纤的圆与线双折射之比的测量装置和方法

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