申请/专利权人：西安电子科技大学

申请日：2023-12-26

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848998A

主分类号：G01N21/41

分类号：G01N21/41;G01N21/3577;G01N21/359

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种基于红外波段多频率谐振的淀粉样蛋白构型光学检测方法，包括：获取光学超构表面单元；添加待测的淀粉样蛋白溶液；照射入射光实现电磁场激励；对工作在近红外波段的耦合互补开口谐振环，检测凹槽内蛋白形成层的折射率和层厚度以得到待测的淀粉样蛋白形成层的一维结构信息；对工作在中红外波段的耦合互补开口谐振环，利用分子的特征吸收峰鉴别凹槽内的成分分子构型，得到待测的淀粉样蛋白分子的结构信息；用这两方面信息确定待测的淀粉样蛋白的构型分析结果及蛋白形成层和蛋白成分分子构型之间的关系。本发明在同一传感表面实现基于介质折射率和基于分子吸收光谱的测量，能实现蛋白质构型分析并将层结构与分子构型有机联系。

主权项：1.一种基于红外波段多频率谐振的淀粉样蛋白构型光学检测方法，其特征在于，包括：获取预先构建的光学超构表面单元；其中，所述光学超构表面单元自上而下包括金属铝层、氧化铝层、金属金层和硅衬底层；所述金属铝层的表面通过刻蚀凹槽形成多对耦合互补开口谐振环，所述多对耦合互补开口谐振环分别工作在近红外波段和中红外波段；向所述光学超构表面单元添加待测的淀粉样蛋白溶液，使所述待测的淀粉样蛋白溶液聚集在所述多对耦合互补开口谐振环对应的凹槽内；向所述光学超构表面单元照射入射光实现电磁场激励；针对工作在近红外波段的耦合互补开口谐振环，检测凹槽内蛋白形成层的折射率和层厚度，基于得到的蛋白层的折射率和层厚度得到待测的淀粉样蛋白形成层的一维结构信息；针对工作在中红外波段的耦合互补开口谐振环，利用分子的特征吸收峰鉴别凹槽内的成分分子构型，得到待测的淀粉样蛋白分子的结构信息；利用所述待测的淀粉样蛋白形成层的一维结构信息和所述待测淀粉样蛋白分子的结构信息，确定所述待测的淀粉样蛋白的构型分析结果以及蛋白形成层和蛋白成分分子构型之间的关系。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安电子科技大学 基于红外波段多频率谐振的淀粉样蛋白构型光学检测方法

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