申请/专利权人:武汉芯必达微电子有限公司
申请日:2023-12-15
公开(公告)日:2024-04-09
公开(公告)号:CN117852455A
主分类号:G06F30/33
分类号:G06F30/33;G06F30/327;G06F115/02
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开
摘要:本发明公开一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统,方法包括:在Emulation阶段,先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证;再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证;在Verify阶段,通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。本发明通过在Emulation阶段引入数字逻辑验证和通路验证,来减少验证风险、减小验证成本,并通过在Verify阶段控制ADC模块的模拟输入电压实现自动化验证,来提高验证效率。
主权项:1.一种ADC模块自动化芯片验证方法,其特征在于,包括:在Emulation阶段,先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证;再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证;在Verify阶段,通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。
全文数据:
权利要求:
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