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【发明公布】T/R组件一体化组装焊接钎透率计算方法、装置和系统_中国电子科技集团公司第三十八研究所_202410029091.5 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第三十八研究所

申请日:2024-01-08

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117853447A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/50

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明提供一种TR组件一体化组装焊接钎透率计算方法、装置和系统,涉及智能制造领域。本发明中,接收并预处理TR组件的X‑ray设备图像,并作为预先训练好的Yolov5网络的输入,以对所述X‑ray设备图像上的不同器件区域进行划分,获取环形器区域、芯片衬底区域和带有背景的第一基板区域;将预设的基板掩膜图像与所述第一基板区域进行融合,获取不带有背景的第二基板区域;采用自适应阈值分别对各器件区域进行气泡分割,获取相应的气泡区域;根据各器件区域自身及其气泡区域的像素数量,分别获取各器件区域的焊接钎透率。实现高效快速准确同时检测多个各器件区域的焊接钎透率,尤其是有效屏蔽了多层介质电路基板存在焊点、走线等干扰导致的检测误差。

主权项:1.一种TR组件一体化组装焊接钎透率计算方法,其特征在于,包括:接收并预处理TR组件的X-ray设备图像;将预处理后的X-ray设备图像作为预先训练好的Yolov5网络的输入,以对所述X-ray设备图像上的不同器件区域进行划分,获取环形器区域、芯片衬底区域和带有背景的第一基板区域;将预设的基板掩膜图像与所述第一基板区域进行融合,获取不带有背景的第二基板区域;采用自适应阈值分别对所述环形器区域、芯片衬底区域和第二基板区域进行气泡分割,获取各器件区域上相应的气泡区域;根据各器件区域自身及其气泡区域的像素数量,分别获取各器件区域的焊接钎透率。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第三十八研究所 T/R组件一体化组装焊接钎透率计算方法、装置和系统

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