申请/专利权人：杭州旗捷科技有限公司

申请日：2023-12-15

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849580A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R31/52;B41J2/175

优先权：["20230326 CN 2023103019954"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请涉及一种芯片短路校验方法、装置、芯片检测方法、芯片和耗材盒，其中，该芯片短路校验方法包括：获取短路校验信号；基于短路校验信号，在校验响应时段中的指定时刻，为待测芯片中的数据端子设置期望电平信号；获取数据端子设置期望电平信号后的实际输出电平信号；基于实际输出电平信号确定待测芯片的短路校验结果。通过本申请，解决了芯片的短路校验结果认定出错的问题，准确地确定出待测芯片的功能是否损坏。

主权项：1.一种芯片短路校验方法，其特征在于，包括：获取短路校验信号；基于所述短路校验信号，在校验响应时段中的指定时刻，为待测芯片中的数据端子设置期望电平信号；获取所述数据端子设置期望电平信号后的实际输出电平信号；基于所述实际输出电平信号确定所述待测芯片的短路校验结果，所述短路校验结果包括所述待测芯片功能正常但所述待测芯片中复位端子与除所述复位端子之外的至少一端子存在短路、所述待测芯片功能正常且未短路或所述待测芯片功能损坏。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州旗捷科技有限公司 芯片短路校验方法、装置、芯片检测方法、芯片和耗材盒

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD