申请/专利权人：上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司

申请日：2023-07-26

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN116931638B

主分类号：G05F1/56

分类号：G05F1/56;G01R1/28;G01R1/30;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2023.11.10#实质审查的生效;2023.10.24#公开

摘要：本发明公开一种恒流源电路及芯片老化测试方法，用于提供芯片老化测试所需的恒流源，恒流源电路包括：第一运放单元；主控制单元，主控制单元的I1‑接口的I1+接口分别与第一运放单元的对应接口电连接；主控制单元包括：电源输出电路，电源输出电路与第一运放单元的反馈端口电连接；放大采集电路，与电源输出电路的采集电阻并联，且放大采集电路与第一运放单元电连接。芯片老化测试方法用前述的恒流源电路进行测试。本发明解决了现有的芯片老化测试用恒流源电路功能单一技术问题。

主权项：1.一种恒流源电路，用于提供芯片老化测试所需的恒流源，其特征在于，包括：第一运放单元；主控制单元，所述主控制单元的I1-接口的I1+接口分别与所述第一运放单元的对应接口电连接；所述主控制单元包括：电源输出电路，所述电源输出电路与所述第一运放单元的反馈端口电连接；放大采集电路，与所述电源输出电路的采集电阻并联，且所述放大采集电路与所述第一运放单元电连接；所述放大采集电路包括：模拟开关芯片，所述模拟开关芯片包括十个引脚，所述模拟开关芯片的引脚1连接有+5V电源，用于实现模拟开关芯片的供电，引脚3为I1+接口；引脚4与引脚8连接；引脚8为控制端，用于与MCU连接；引脚6接地；引脚9为I1-接口；电阻R16，一端与引脚2接通，另一端与所述电源输出电路接通；电阻R5，一端与引脚10连接，另一端与所述电源输出电路接通；电阻R17，一端与所述引脚3连接，另一端接地；电阻R6，一端与引脚5接通，另一端与所述电阻R16串联；电阻R7，一端与引脚7连接，另一端与所述电阻R5连接；电阻R8，一端与所述引脚9连接，另一端与电源输出电路连接所述电源输出电路包括：第二运放单元，所述第二运放单元的一个端口与电容C5串联后连接供电源；电阻R3，一端与所述第一运放单元U15的反馈接口连接，另一端与所述电容C5并联后与所述第二运放单元的端口连接；电阻R1，一端与所述第二运放单元接通；电阻R4，一端与所述第二运放单元连接；三极管Q1，所述三极管Q1的基极与电阻R4的另一端电连接；电阻R27，一端与所述三极管Q1的集电极连通；电阻R18，一端与所述三极管Q1的集电极连通，所述电阻R18与所述R27并联；控制单元，所述控制单元的控制端与所述第二运放单元的端口连接；所述电阻R16与所述三极管Q1的集电极连接。

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