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【发明公布】公头型D-SUB连接器多针脚误差测量方法、装置和存储介质_清华大学_202311748197.2 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2023-12-19

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117830233A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/66;G06T7/50;G06T7/13;G06V10/762

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本公开提供的公头型D‑SUB连接器多针脚误差测量方法,建立用于识别目标公头型D‑SUB连接器形状的D型特征库;对获取的初始点云聚类得到若干不纯净的D‑SUB点云簇;利用图像特征不变性方法依次计算各不纯净的D‑SUB点云簇在二维剪影下的形状特征,与D型特征库对比得到最接近目标的纯净D‑SUB点云簇;对该点云簇中的D型端面和多针脚顶端分别进行平面拟合;对D型端面拟合平面中的各点,提取圆孔边缘点并进行聚类,分割出各针脚对应的圆孔点云,针对各圆孔点云,对其进行3D空间圆拟合,得到圆孔的圆心;对多针脚顶端拟合平面中的各点进行聚类,分割出各圆孔对应的针脚点云;计算圆孔的圆心与对应针脚点云的质心的空间偏移量,即为针脚偏斜误差。本公开具有较高的测量精度和效率。

主权项:1.一种公头型D-SUB连接器多针脚误差测量方法,其特征在于,包括以下步骤:获取含有背景和目标公头型D-SUB连接器的点云,作为初始点云;建立用于识别目标公头型D-SUB连接器形状的D型特征库;对所述初始点云进行聚类得到若干不纯净的D-SUB点云簇;利用图像特征不变性方法依次计算各不纯净的D-SUB点云簇在二维剪影下的形状特征,将其与所述D型特征库进行对比,将差异小于设定阈值的不纯净的D-SUB点云簇作为最接近目标的纯净D-SUB点云簇;对所述最接近目标的纯净D-SUB点云簇中的D型端面和多针脚顶端分别进行平面拟合;对得到的D型端面拟合平面中的各点,利用空间临近搜索方法提取属于D型端面的边缘点或者圆孔边缘点,随后将属于D型端面的边缘点滤除,得到圆孔边缘点,对所述圆孔边缘点进行聚类,分割出各个针脚对应的圆孔点云,针对每个针脚对应的圆孔点云,对其进行3D空间圆拟合,计算出圆孔的圆心;对得到的多针脚顶端拟合平面中的各点进行聚类,分割出圆孔对应的针脚点云;计算所述圆孔的圆心与对应针脚点云的质心的空间偏移量,即为针脚偏斜误差。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学 公头型D-SUB连接器多针脚误差测量方法、装置和存储介质

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