申请/专利权人：西安航天计量测试研究所

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117824469A

主分类号：G01B5/24

分类号：G01B5/24

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明涉及检测器具，具体涉及一种倒角卡尺示值检具及其使用方法，解决现有检测器具在测量倒角卡尺示值误差时，采用的倒角标准块测量法，其测量时间长，效率低，并且倒角标准块制造过程繁琐、加工成本较大的技术问题，本发明的检具包括基座、测量滑块、限位件、数显测微尺，长方体结构的基座顶面设置有基座导轨，数显测微尺安装于基座顶面左端，长方体结构的测量滑块通过其上开设的导轨安装孔安装在基座导轨上，测量滑块宽度与基座相同，并且测量滑块左端面与数显测微尺连接，右端面抵接在限位件上，使得基座的右端面与测量滑块的右端面位于同一竖直平面内。

主权项：1.一种倒角卡尺示值检具，其特征在于：包括基座1、测量滑块2、限位件以及数显测微尺4；所述基座1为长方体结构，其顶面设置有沿水平方向延伸的基座导轨11，所述数显测微尺4安装于基座1顶面左端；所述测量滑块2通过其底部开设的导轨安装孔22配合安装于基座导轨11上，测量滑块2为长方体结构，其宽度与基座1宽度相同，测量滑块2左端与数显测微尺4连接，所述基座1顶面右端设置有限位件，测量滑块2的右端面抵接在限位件上，使得基座1的右端面与测量滑块2的右端面位于同一竖直平面内。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安航天计量测试研究所 一种倒角卡尺示值检具及其使用方法

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