申请/专利权人：珠海微度芯创科技有限责任公司

申请日：2023-09-28

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117389869B

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36;G06F11/22;G06F11/263

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要：本申请公开了毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质，方法包括：ADC数据采集模块采集的第一待测ADC数据通过SOC外设接口转成第二待测ADC数据并传至PC，PC保存并分析得到第一处理结果，并将第二待测ADC数据通过FPGA模块、ADC数据格式转换模块转换成第三待测ADC数据；ASIC算法处理模块分析第三待测ADC数据得到第二处理结果并传至PC，PC比较两个处理结果得到ASIC算法测试结果。本申请将SOC芯片采集的ADC数据发送并保存在PC，测试ASIC算法处理模块的数据源从PC获取，使得PC用于分析的数据源与评估ASIC算法处理模块算法性能的数据源相同，保障测试结果的可靠性。

主权项：1.一种毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法，其特征在于，应用于ASIC算法测试装置，所述ASIC算法测试装置包括毫米波雷达SOC芯片、个人电脑PC和FPGA模块，所述毫米波雷达SOC芯片包括模数转换ADC数据采集模块、ASIC算法处理模块、ADC数据格式转换模块和SOC外设接口，所述ASIC算法处理模块部署有毫米波雷达算法，所述PC部署有应用程序，所述应用程序预置有所述毫米波雷达算法，所述方法包括：所述ADC数据采集模块采集第一待测ADC数据，并将所述第一待测ADC数据发送至所述SOC外设接口；所述SOC外设接口对所述第一待测ADC数据进行格式转换得到第二待测ADC数据，并将所述第二待测ADC数据上传至所述PC，以使所述PC将所述第二待测ADC数据保存于本地，并利用所述应用程序对所述第二待测ADC数据进行数据分析处理，得到第一处理结果；所述PC将所述第二待测ADC数据下发至所述FPGA模块，所述FPGA模块将所述第二待测ADC数据发送至所述ADC数据格式转换模块，以使所述ADC数据格式转换模块对所述第二待测ADC数据进行格式转换，得到第三待测ADC数据，其中，所述第三待测ADC数据与所述第一待测ADC数据的数据格式相同；所述ADC数据格式转换模块将所述第三待测ADC数据输入至所述ASIC算法处理模块，以使所述ASIC算法处理模块对所述第三待测ADC数据进行数据分析处理，得到第二处理结果；所述ASIC算法处理模块将所述第二处理结果通过所述SOC外设接口上传至所述PC，所述PC对所述第一处理结果和所述第二处理结果进行数据比较处理，得到ASIC算法测试结果。

全文数据：

权利要求：

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