申请/专利权人:上海人工智能创新中心
申请日:2023-11-08
公开(公告)日:2024-04-12
公开(公告)号:CN117875281A
主分类号:G06F40/18
分类号:G06F40/18;G01R31/3181;G01R31/317;G06F40/174;G06F17/18
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开
摘要:本发明涉及一种芯片测试数据处理系统,包括基于既定规则的自动化算分子系统和基于单元格颜色的自动提示子系统;基于既定规则的自动化算分子系统包括:数据导入模块,被配置为导入基准芯片的基准值和比较芯片的原始测试数据,自动计算模块,被配置为根据预配置的公式,基于基准芯片和比较芯片的原始测试数据,计算得到对应的指标的得分;基于单元格颜色的自动提示子系统包括:漏填提示模块,被配置为检测单元格的值是否为空,若为是,则将该单元格的底色显示为第一色彩,填写错误提示模块,被配置检测单元格的值是否满足预配置的条件,若为否,则将该单元格的底色显示为第二色彩。与现有技术相比,本发明能够节省人力成本,提高效率。
主权项:1.一种芯片测试数据处理系统,其特征在于,系统包括基于既定规则的自动化算分子系统和基于单元格颜色的自动提示子系统;所述基于既定规则的自动化算分子系统包括:数据导入模块,被配置为导入基准芯片的基准值和比较芯片的原始测试数据,自动计算模块,被配置为根据预配置的公式,基于基准芯片和比较芯片的原始测试数据,计算得到对应的指标的得分;所述基于单元格颜色的自动提示子系统包括:漏填提示模块,被配置为检测单元格的值是否为空,若为是,则将该单元格的底色显示为第一色彩,填写错误提示模块,被配置检测单元格的值是否满足预配置的条件,若为否,则将该单元格的底色显示为第二色彩。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海人工智能创新中心 一种芯片测试数据处理系统
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