申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日：2020-12-03

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN112651427B

主分类号：G06V10/75

分类号：G06V10/75;G06T7/80;G06T5/80

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2021.04.30#实质审查的生效;2021.04.13#公开

摘要：本发明提供了一种宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法，解决现有宽基线光学交会测量像点群匹配方法，存在计算量大、匹配效率低、误匹配率高的问题。该方法包括以下步骤：1像点排序，两站像点按与坐标平面夹角大小排序匹配，省去大量重复计算；2像点匹配，具体为求解像点与各自基站所形成的射线间的异面直线距离大小结合阈值判断出，两像点是否为同名像点，随着匹配的进行，匹配速度越来越快，可实现两站相机同名像点快速有序匹配，并发明简化的异面直线距离求解方法，有效减小直线间距离计算复杂度，有效提高宽基线光学交会测量像点群匹配速度和正确率。

主权项：1.一种宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法，其特征在于，包括以下步骤：1像点排序将基站1的目标影像数据集S1中的像点，按像点和基站1光心连线与坐标系O1XY平面夹角由大到小排序，得到像点群S1′＝{P′11，P′12，…，P′1n}，像点P′11，P′12，…，P′1n和基站1光心连线所得的直线记为la1、la2、…、lan；将基站2的目标影像数据集S2中的像点，按像点和基站2光心连线与坐标系O2XY平面夹角由大到小排序，得到像点群S2′＝{P′21，P′22，…，P′2m}，像点P′21，P′22，…，P′2m和基站2光心连线所得的直线记为lb1、lb2、…、lbm；其中，坐标系O1XY以基站1光心O1为坐标系原点，平行于基站1光心O1和基站2光心O2连线为X轴，垂直于X轴方向顺时针方向为Y轴；坐标系O2XY以基站2光心O2为坐标系原点，平行于基站2光心O2和基站1光心O1连线为X轴，垂直于X轴方向顺时针方向为Y轴；2像点匹配2.1为像点群S1′中第一个像点P′11寻找匹配点由像点群S1′中第一个像点P′11对应的直线la1依次求解与像点群S2′中像点P′21，P′22，…，P′2m对应的直线lb1、lb2、…、lbm异面直线距离，直线la1与直线lbi的距离记为da1bi，i＝1，2，…，m，每得到一次异面直线距离da1bi，判断是否小于等于阈值E，若da1bi小于等于阈值E，则直线la1对应的像点P′11与直线lbi对应的像点P′2i为正确匹配点对；若直线距离da1bi大于阈值E，则寻求S2′中下一像点进行异面直线距离计算；直至寻找出正确匹配点对或遍历完S2′中所有像点为止；所述异面直线距离计算的方法为：定义，基站1的光心O1和像点群S1′中任一像点M构成直线l1，基站2的光心O2和像点群S2′中任一像点N构成直线l2，则异面直线l1和l2之间距离d计算如下：d＝|z1-z2|其中， x0，y0为基站2在基站1XO1Y平面的投影点坐标；A1m，E1m为像点M修正后在基站1上的方位角和俯仰角；A2n，E2n为像点N修正后在基站2上的方位角和俯仰角；2.2为像点群S1′中第二个像点P′12寻找匹配点若第一个像点P′11找到正确匹配点P′2i，则S1′中下一个像点P′12利用步骤2.1的方法从该正确匹配点的下一个像点P′2i+1开始进行像点匹配；若第一个像点P′11未找到正确匹配点，则取S1′中下一个像点P′12利用步骤2.1的方法从像点群S2′中的第一个像点P′21开始进行像点匹配；2.3为像点群S1′中其余像点寻找匹配点利用步骤2.2的方法，依次进行像点群S1′中其余像点与像点群S2′的像点匹配计算，直至遍历完像点群S1′中所有像点，或者像点群S1′中像点P′1s与像点群S2′中像点P′2m为正确匹配点对；其中，s＝1，2，…，n。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD