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【发明授权】一种用于Micro-LED的瑕疵测量辅助系统_星源电子科技(深圳)有限公司_202111330388.8 

申请/专利权人:星源电子科技(深圳)有限公司

申请日:2021-11-11

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN114018546B

主分类号:G01M11/00

分类号:G01M11/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.12#授权;2022.02.25#实质审查的生效;2022.02.08#公开

摘要:本发明公开了一种用于Micro‑LED的瑕疵测量辅助系统,涉及瑕疵测量装置技术领域,针对现有的整体效率低的问题,现提出如下方案,其包括工作箱,其一侧开设有用于放料的通孔;第一运输链条,其连接在所述工作箱内,其上方设置有与工作箱相连接的第二运输链条;下检测机构,其设置有多个,其一侧固定连接有与第一运输链条相连接的第一平衡板;上检测机构,其设置有多个,其一侧固定连接有与第二运输链条相连接的第二平衡板,本发明结构简单,使用方便,可以快速的进行必要的检测工作,自动化的进行检测,增加工作效率,同时在检测过程中,对检测环境进行必要的控制,使得检测环境稳定,进而保证检测的精准。

主权项:1.一种用于Micro-LED的瑕疵测量辅助系统,其特征在于,包括:工作箱(1),其一侧开设有用于放料的通孔;第一运输链条(7),其连接在所述工作箱(1)内,其上方设置有与工作箱(1)相连接的第二运输链条(3);下检测机构(6),其设置有多个,其一侧固定连接有与第一运输链条(7)相连接的第一平衡板(21);上检测机构(2),其设置有多个,其一侧固定连接有与第二运输链条(3)相连接的第二平衡板(13);贴标机(4),其位于所述上检测机构(2)的一侧,且位于第一运输链条(7)的上方,所述贴标机(4)与工作箱(1)固定连接;以及驱动机构,位于所述工作箱(1)的一侧,且与第一运输链条(7)和第二运输链条(3)的驱动端相连接;所述上检测机构(2)包括:第一伸缩杆(15),其设置有多个,且其固定端与所述第二平衡板(13)固定连接,所述第一伸缩杆(15)的输出端固定连接有密封盖(19);套接板(28),其固定连接在所述密封盖(19)的两侧,且其中间滑动套接有与下检测机构(6)相连接的滑动板(27);第一检测仪(16),其固定连接在所述密封盖(19)的下侧;以及反射器(14),其固定连接在第二平衡板(13)上,其一侧对应设置有与工作箱(1)固定连接的触发器(12);所述下检测机构(6)包括:稳定箱(20),其内部连接有净化单元;散气板(17),其设置有两个,其固定连接在所述稳定箱(20)的两侧,所述散气板(17)上设置有多个通气孔,且散气板(17)与的净化单元相连接;固定块(24),其固定连接在所述稳定箱(20)上,其顶部转动连接有夹持板(29);第二伸缩杆(25),其一端与固定块(24)转动连接,另一端与所述夹持板(29)转动连接;弹簧(26),其一端与夹持板(29)转动连接,另一端与固定块(24)固定连接;以及第二检测仪(18),其设置在两个所述固定块(24)之间,且与稳定箱(20)固定连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 星源电子科技(深圳)有限公司 一种用于Micro-LED的瑕疵测量辅助系统

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