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【发明授权】电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质_苏州华芯微电子股份有限公司_202410138098.0 

申请/专利权人:苏州华芯微电子股份有限公司

申请日:2024-02-01

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN117687535B

主分类号:G06F3/044

分类号:G06F3/044;G06F3/041

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开

摘要:本发明公开了一种电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质,该方法包括:按预设频率采集电容式触摸按键的电容值,得到由多个采样值组成的采样值数组;对所述采样值数组进行滤波处理,基于所述滤波处理后的采样值数组,确定所述采样值数组的噪声值;基于电容式触摸按键的当前基准值、当前采样值、触摸门限值和所述噪声值的大小关系,校正电容式触摸按键的基准值。本发明提供的电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质,能够对基准值进行实时校正,使得系统能够更准确地响应真实的触摸事件,而降低环境变化的影响。

主权项:1.一种电容式触摸按键基准值校正方法,其特征在于,包括:按预设频率采集电容式触摸按键的电容值,得到由多个采样值组成的采样值数组;对所述采样值数组进行滤波处理,基于所述滤波处理后的采样值数组,确定所述采样值数组的噪声值,所述噪声值为所述滤波处理后的采样值数组中的最大采样值与最小采样值的差值;基于电容式触摸按键的当前基准值、当前采样值、触摸门限值和所述噪声值的大小关系,校正电容式触摸按键的基准值;对多个电容式触摸按键的电容值进行采样,计算各个电容式触摸按键的基准值与采样值之差,得到各个电容式触摸按键的基准值与采样值的差值组成的差值序列;当所述差值序列中的最大差值与次大差值之间的差值大于所述触摸门限值时,将该最大差值对应的采样值记为触摸有效值;当对同一电容式触摸按键的连续n次采样中,至少有n-1次采样值为触摸有效值时,确定该电容式触摸按键处于触摸状态;其中,基于电容式触摸按键的当前基准值、当前采样值和所述噪声值的大小关系,校正电容式触摸按键的基准值,具体包括:当电容式触摸按键的当前基准值小于当前采样值,且当前采样值与当前基准值的差值大于所述噪声值时,将电容式触摸按键的当前基准值上调第一校正值后作为新的基准值;当电容式触摸按键的当前基准值大于当前采样值,且当前基准值与当前采样值的差值连续多次大于所述噪声值并小于所述触摸门限值时,将电容式触摸按键的当前基准值下调第二校正值后作为新的基准值;当电容式触摸按键的当前准值大于当前采样值,且当前基准值与当前采样值的差值大于2倍的所述触摸门限值时,将电容式触摸按键的基准值调整为当前采样值与2倍的所述触摸门限值之和。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州华芯微电子股份有限公司 电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质

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