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摄影电影;光学设备的制造及其处理,应用技术
  • 清洁刮板、清洁单元、中间转印单元及图像形成装置
    清洁刮板、清洁单元、中间转印单元及图像形成装置_株式会社理光_202510113180.2
    本发明涉及即使在图像形成装置刚开始使用后，也能够抑制转矩的上升，即使连续打印高浓度的图像，也能够得到良好的清洁性的用于像承载体的清洁刮板、处理卡盒和图像形成装置。一种与被清扫部件的表面抵接，除去所述被清扫部件表面的残留物的清洁刮板，其特征在...
    2025-08-04
  • 一种显影瓶
    一种显影瓶_珠海纳思达信息技术有限公司_202422076735.4
    本申请涉及一种显影瓶，显影瓶包括储存显影剂的瓶体和瓶盖，所述瓶体具有瓶口，所述瓶口密封连接有密封件，所述瓶盖连接于瓶口且设置有出料口，所述密封件连接于密封连接件，所述密封连接件一端连接于密封件，另一端外露于瓶盖。密封连接件可为撕拉件，撕拉件...
    2025-08-04
  • 图像形成设备及纸张加热方法
    图像形成设备及纸张加热方法_珠海奔图电子有限公司_202310042173.9
    本发明涉及图像形成领域，尤其涉及一种图像形成设备及纸张加热方法。周期性开启第一检测装置并获取进纸盒中的环境湿度值，若所述环境湿度值超出第一阈值，则开启第二检测装置并获取所述进纸盒中待用纸张的纸张重力值，然后根据获取到的所述环境湿度值和所述纸...
    2025-08-04
  • 碳粉盒及图像形成装置
    碳粉盒及图像形成装置_珠海奔图电子有限公司_202422010631.3
    本实用新型提供了一种碳粉盒及图像形成装置。碳粉盒，以多个数量的形式安装在图像形成装置的本体上，且安装在所述图像形成装置的本体上的多个各所述碳粉盒所储存的调色剂颜色不同，各所述碳粉盒均包括壳体，所述壳体包括：第一凸部，所述第一凸起设置在所述壳...
    2025-08-04
  • 定影温度控制方法、图像形成装置、电子设备及存储介质
    定影温度控制方法、图像形成装置、电子设备及存储介质_珠海奔图电子有限公司_202510578503.5
    本申请提供了一种定影温度控制方法、图像形成装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：控制定影器中的所有加热点加热预设时长；根据每个采集区域在预设时长内的温度变化量，获得每个采集区域对应的温升速率；根据第一实际温度、目标温度以及每个采集区域的温...
    2025-08-04
  • 一种车辆实时称重系统及方法
    一种车辆实时称重系统及方法_北京城环科技有限公司_202510493124.6
    本申请提供了一种车辆实时称重系统及方法，涉及车辆称重技术领域，根据本申请的系统包括：传感器模块、陀螺仪、集成变送器模块、主机控制模块以及显示交互屏；所述传感器模块，包括预设个数的传感器，传感器设置在车辆收运架上，用于测量车辆承载重量数据；陀...
    2025-08-04
  • 转印单元以及具备该转印单元的图像形成装置
    转印单元以及具备该转印单元的图像形成装置_京瓷办公信息系统株式会社_202310109922.5
    本发明提供一种转印单元以及具备该转印单元的图像形成装置。本发明的转印单元具备：第一辊和第二辊，弹性层的轴向长度、体积电阻率和硬度中的任一个不同；第一轴承部件和第二轴承部件，检第一辊和第二辊的芯轴支承为能够旋转；辊支架；以及切换机构。辊支架具...
    2025-08-04
  • 用于光刻过程中的多参数感测的多通道锁相相机
    用于光刻过程中的多参数感测的多通道锁相相机_ASML荷兰有限公司_202380089783.2
    一种量测系统可以包括照射系统、相机和分析器系统。所述照射系统朝向目标发送照射。所述照射具有与对应的多个调制频率相关联的多个照射参数。所述相机从所述目标接收散射照射，并且按照所述相机的每个像素生成用所述多个调制频率的识别标志编码的测量信号。所...
    2025-08-04
  • 一种无碱体系显影液及其显影方法
    一种无碱体系显影液及其显影方法_深圳市板明科技股份有限公司_202510879705.3
    本发明公开了一种无碱体系显影液及其显影方法，涉及线路板生产技术领域。该无碱体系显影液包括以下质量浓度的组分：显影剂3.0‑6.0%；加速剂1.0‑3.0%；湿润剂0.5‑2.0%；助渗剂1.0‑3.0%；稳定剂0.2‑1.0%。本发明的无碱...
    2025-08-04
  • 用于扫描叠加计量的跟踪实时位置的系统及方法
    用于扫描叠加计量的跟踪实时位置的系统及方法_科磊股份有限公司_202480005700.1
    一种方法可包含接收来自两个或更多个光电检测器的与光栅结构及参考光栅结构相关联的时变干扰信号。所述光栅结构可包含一或多个衍射光栅，其中所述参考光栅结构包含经布置为接近所述光栅结构的所述一或多个衍射光栅的参考光栅，且其中在相对于一或多个照明光束...
    2025-08-04
  • 一种掩模版优化方法
    一种掩模版优化方法_澳芯集成电路技术(广东)有限公司_202210033172.3
    本发明公开了一种掩模版优化方法，其可避免掩模版图型产生桥连现场，可确保光刻效果、提升产品良品率，掩模版优化方法基于OPC修正模型实现，该方法包括：提供一目标版图；采用OPC修正模型对目标版图上的初始图型进行优化，获得优化掩模版；OPC修正模...
    2025-08-04
  • 一种接触式双工位自动曝光机的对准显微镜定位机构
    一种接触式双工位自动曝光机的对准显微镜定位机构_三河建华高科有限责任公司_202210495125.0
    本发明提供了一种接触式双工位自动曝光机的对准显微镜定位机构，包括曝光光源移动组件、曝光光源组件和对准显微镜限位组件，所述曝光光源移动组件包括光源移动滚珠丝杠、光源移动电机、滑动机构和安装板。本发明在高效率和较低成本的情况下保证了第一对准显微...
    2025-08-04
  • 使用可交联硅氧烷化合物的正型光刻胶配制剂
    使用可交联硅氧烷化合物的正型光刻胶配制剂_默克专利股份有限公司_202080070795.7
    本发明涉及包含使用可交联硅氧烷聚合物的正型光刻胶配制剂。用于该正型光刻胶配制剂中的硅氧烷聚合物是可交联的且包含含有至少一个马来酰亚胺基团的第一重复单元及不含有马来酰亚胺基团的第二重复单元。本发明进一步提供使用根据本发明的正型光刻胶配制剂制造...
    2025-08-04
  • 一种正性光刻胶组合物及其应用
    一种正性光刻胶组合物及其应用_上海彤程电子材料有限公司_202510374407.9
    本发明提供了一种正性光刻胶组合物及其用途，涉及光刻技术领域。该正性光刻胶组合物，原料组分包括：溶质和第一溶剂；其中，所述溶质包括70wt％‑96wt％化学放大正性光刻胶基体树脂、1wt％‑30wt％光致产酸剂、0.1wt％‑15wt％酸淬灭...
    2025-08-04
  • 一种利用重力惯性发电装置
    一种利用重力惯性发电装置_张金龙_202510629373.3
    本发明涉及发电装置技术领域，具体公开了一种利用重力惯性发电装置，伸缩立柱沿环形轨道内外两侧之间的中心环线均匀设置，相邻的两个伸缩立柱之间通过链条连接；齿轮与动力轴滑键连接，齿轮与链条配合转动；动力轴两端对称设有结构相同的第一飞轮，第一飞轮与...
    2025-08-04
  • 去除极紫外光光刻光罩上的缺陷的方法
    去除极紫外光光刻光罩上的缺陷的方法_南亚科技股份有限公司_202410373007.1
    本揭露的实施例提供一种去除极紫外光光刻光罩上的缺陷的方法，包括以下步骤。接收在极紫外光光刻光罩上具有至少一缺陷的极紫外光光刻光罩，其中吸收层及图案层共同地在覆盖层上形成具有覆盖部分及暴露部分的图案，且至少一缺陷在覆盖层上的暴露部分中形一被遮...
    2025-08-04
  • 一种用于微型投影的变焦物镜系统
    一种用于微型投影的变焦物镜系统_深圳市点睛创视技术有限公司_202310502984.2
    本发明提供了一种用于微型投影的变焦物镜系统，包括：依次排布的第一群组透镜、光阑、第二群组透镜、振镜、分光器件、保护玻璃和成像面；所述成像面用于发出光线；所述振镜用于成像的像素；所述分光器件用于将所述光线进行分束；所述光阑用于控制分束后的光的...
    2025-08-04
  • 投影显示装置及其光学遮蔽件
    投影显示装置及其光学遮蔽件_台达电子工业股份有限公司_202410100888.X
    本案关于一种光学遮蔽件，适用于投影显示装置。投影显示装置包含发光单元及数字微镜装置。发光单元以入射光投射至数字微镜装置，使数字微镜装置反射入射光，并投影成像。光学遮蔽件包含框体及镀膜层。框体包含本体及中空部。本体环绕形成中空部。本体包含内侧...
    2025-08-04
  • 成像镜头、取像装置与电子装置
    成像镜头、取像装置与电子装置_大立光电股份有限公司_202311124530.2
    本发明公开一种成像镜头、取像装置及电子装置，所述成像镜头具有光轴。成像镜头包含多个光学元件、镜筒、光学辨识结构以及可固化液体。光学元件沿光轴排列。光学元件包含非圆形元件。非圆形元件包含承靠部。镜筒环绕光轴。非圆形元件收纳于镜筒。承靠部与镜筒...
    2025-08-04
  • 一种极紫外光刻掩模相位缺陷的相干调制检测装置及方法
    一种极紫外光刻掩模相位缺陷的相干调制检测装置及方法_中国科学院上海光学精密机械研究所_202510327328.2
    本发明公开了一种极紫外光刻掩模相位缺陷的相干调制检测方法及装置，通过迭代算法实现纳米级相位缺陷的高精度全场重建。该装置采用紧凑型极紫外光源生成高亮度相干光，经多层膜聚焦光学器件反射聚焦探针光，以布拉格角入射掩模，反射光携带相位缺陷信息，经调...
    2025-08-04
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