申请/专利权人:长沙景嘉微电子股份有限公司;长沙景美集成电路设计有限公司
申请日:2020-07-01
公开(公告)日:2020-10-16
公开(公告)号:CN111782448A
主分类号:G06F11/22(20060101)
分类号:G06F11/22(20060101)
优先权:
专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态:2023.10.27#发明专利申请公布后的驳回;2021.01.01#实质审查的生效;2020.10.16#公开
摘要:本申请实施例提供一种芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质,其中,芯片自检测方法包括:获取芯片的上电检测参数;加载硬件初始化程序;当所述上电检测参数满足预设参数条件、且硬件初始化程序运行正常时,对处于初始化状态的硬件进行检测,并根据预设绘图命令绘制图形;根据所述硬件的检测结果以及绘图结果产生芯片自检测结果。本申请实施例提供的芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质能够解决传统方案中对芯片检测的效率较低的问题。
主权项:1.一种芯片自检测方法,其特征在于,包括:获取芯片的上电检测参数;加载硬件初始化程序;当所述上电检测参数满足预设参数条件、且硬件初始化程序运行正常时,对处于初始化状态的硬件进行检测,并根据预设绘图命令绘制图形;根据所述硬件的检测结果以及绘图结果产生芯片自检测结果。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 长沙景嘉微电子股份有限公司;长沙景美集成电路设计有限公司 芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质
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