申请/专利权人：江苏盐芯微电子有限公司

申请日：2022-12-19

公开（公告）日：2023-09-26

公开（公告）号：CN219758299U

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.09.26#授权

摘要：本实用新型公开了一种用于LGA测试的精密测试座，涉及测试座技术领域，为解决现有技术中的在芯片的LGA封装进行测试时，LGA封装底部的金属触点不能与测试座稳定贴合接触，影响芯片的LGA封装测试的准确性的问题。所述安放底座内部的中间设置有测试座，所述安放底座的内部沿测试座的两侧分别对称设置有压块槽，所述压块槽的内部设置有稳定压块，且稳定压块延伸至测试座的前端，所述稳定压块一侧的下端倒角设置，所述稳定压块的下方设置有稳定板，且稳定板穿进稳定压块的内部，所述稳定压块的内部设置有弹动槽，所述弹动槽的内部沿稳定板的上方设置有第一弹簧，且第一弹簧与稳定板固定连接。

主权项：1.一种用于LGA测试的精密测试座，包括安放底座1，其特征在于：所述安放底座1内部的中间设置有测试座4，所述安放底座1的内部沿测试座4的两侧分别对称设置有压块槽6，所述压块槽6的内部设置有稳定压块5，且稳定压块5延伸至测试座4的前端，所述稳定压块5一侧的下端倒角设置，所述稳定压块5的下方设置有稳定板12，且稳定板12穿进稳定压块5的内部。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 江苏盐芯微电子有限公司 一种用于LGA测试的精密测试座

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD