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【发明公布】一种类同轴TSV结构及其设计方法_西安微电子技术研究所_202310798897.6 

申请/专利权人:西安微电子技术研究所

申请日:2023-06-30

公开(公告)日:2024-02-27

公开(公告)号:CN117613029A

主分类号:H01L23/528

分类号:H01L23/528;H01L23/48;H01L21/768;H01L23/485;G06F30/394

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要:本发明提出了一种类同轴TSV结构及其设计方法,结构包括硅基板、上层地平面和下层地平面,上层地平面设置在硅基板的上部,下层地平面设置在硅基板的下部,硅基板上设置RDL布线,所述RDL布线包括两条信号路径,每条路径上设置两个TSV孔,以TSV孔为中心在TSV孔的外周设置有TSV阵列,所述TSV阵列包括若干接地TSV孔。通过在TSV孔的外周设置接地TSV孔,使多个TSV孔之间在射频传输过程中能够充分隔离,实现低串扰、低插损和低回损的性能,保证了类同轴TSV在工作过程中的屏蔽效果。并且通过设置下层地平面的面积小于上层地平面的面积,能够有效避免腔体谐振的产生。

主权项:1.一种类同轴TSV结构,其特征在于,包括硅基板、上层地平面4和下层地平面5,所述上层地平面4设置在硅基板上部,下层地平面5设置在硅基板下部,硅基板上设置RDL布线3,所述RDL布线3包括两条信号路径,每条路径上设置两个TSV孔2,以TSV孔2为中心在TSV孔2的外周设置有TSV阵列1,所述TSV阵列1包括若干接地TSV孔102。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安微电子技术研究所 一种类同轴TSV结构及其设计方法

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