申请/专利权人：南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-03-12

公开（公告）号：CN117517932B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.12#授权;2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本发明属于超大规模集成电路可测性设计领域，公开了一种芯粒间TSV测试电路及测试方法，通过芯粒测试配置电路配置测试路径、测试指令和读写数据寄存器；通过读写数据寄存器组接收测试向量和捕获测试响应；通过TSV阵列测试控制电路控制TSV测试的初始化、测试、捕获操作；通过地址解码电路选择TSV阵列中的待测行；通过测试向量生成电路生成测试TSV所需的测试向量；通过比较电路判断测试TSV是否存在故障；通过TSV接收阵列和TSV发送阵列控制测试向量在TSV上的发送与测试响应的接收。本发明所提出的测试电路满足芯粒间TSV的测试需求，减少了硬件面积的占用，测试过程高度自动化，芯粒测试成本下降。

主权项：1.一种芯粒间TSV测试电路，其特征在于，包括芯粒测试配置电路、读写数据寄存器组、TSV阵列测试控制电路、地址解码电路、测试向量生成电路、比较电路、TSV接收阵列和TSV发送阵列；所述芯粒测试配置电路，负责芯粒测试通道的配置、测试模式的选择；所述读写数据寄存器组，用于接收来自外部端口的测试向量、激活TSV阵列测试控制电路、捕获测试响应并输出观测；所述TSV阵列测试控制电路，在功能时钟func_clk的作用下，控制地址解码电路逐行选择TSV以进行测试，控制TSV的测试初始化、测试、捕获操作；所述测试向量生成电路用于自动生成TSV测试所需的测试向量；所述TSV发送阵列和TSV接收阵列分别用于控制测试向量从TSV发射端发送和测试响应在TSV接收端的接收；所述比较电路用于进行测试结果的判断。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司 一种芯粒间TSV测试电路及测试方法

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