申请/专利权人：深圳市时创意电子有限公司

申请日：2023-06-15

公开（公告）日：2024-02-27

公开（公告）号：CN220543596U

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.27#授权

摘要：本申请公开了一种存储芯片的测试大板和测试装置，测试大板包括底板、多个测试小板、多个连接器和多个测试座，其中，底板设置有多个测试接口；多个测试小板对应多个所述测试接口设置；连接器设置在所述测试小板上，用于连接所述测试接口和所述测试小板之间的电源与通信；以及多个测试座分别设置在多个所述测试小板背离所述连接器的一侧，与所述测试小板电性连接，所述测试座用于放置所述存储芯片；其中，多个所述测试小板中至少包括两种不同规格的测试小板。通过上述方案实现测试大板同时能够满足多种规格的存储芯片进行测试，且在部分线路损坏的情况下，不影响整体测试。

主权项：1.一种存储芯片的测试大板，其特征在于，包括：底板，设置有多个测试接口；多个测试小板，对应多个所述测试接口设置；连接器，设置在所述测试小板上，用于连接所述测试接口和所述测试小板之间的电源与通信；以及多个测试座，分别设置在多个所述测试小板背离所述连接器的一侧，与所述测试小板电性连接，所述测试座用于放置所述存储芯片；其中，多个所述测试小板中至少包括两种不同规格的测试小板。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市时创意电子有限公司 存储芯片的测试大板和测试装置

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