申请/专利权人：中科微点技术有限公司

申请日：2023-12-14

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117634523A

主分类号：G06K7/14

分类号：G06K7/14;G06V10/30;G06V10/75

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的撤回

法律状态：2024.03.19#发明专利申请公布后的撤回;2024.03.01#公开

摘要：本发明涉及一种微点码结合批量识读二代芯片技术的识别方法，该方法通过将微点码与二代芯片技术相结合，实现了对大量芯片的快速、准确和高效识别。通过使用批量识读技术，可以一次性读取多个芯片上的微点码。具体地，使用一个识读设备，如扫描枪或图像识别系统，对芯片进行扫描或拍摄，并获取芯片上的微点码图像。本发明具有操作简便、识别速度快、准确率高等优点，可以大大提高芯片识别的效率和准确性。同时，由于微点码的唯一性和可追溯性，还可以有效防止芯片的伪造和篡改，可广泛应用于芯片生产、检测、管理等领域。

主权项：1.一种微点码结合批量识读二代芯片技术的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：1获取待识别芯片的微点码图像；2对所述微点码图像进行预处理，包括去噪、二值化、细化等操作；3提取所述预处理后的微点码图像的特征信息；4将所述特征信息与预设的标准特征信息进行比对，得到识别结果；根据所述识别结果，对待识别芯片进行分类和管理。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中科微点技术有限公司 一种微点码结合批量识读二代芯片技术的识别方法

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