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【发明授权】带动态补偿功能的Micro LED光学系统_中国科学院长春光学精密机械与物理研究所_202010595438.4 

申请/专利权人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日:2020-06-28

公开(公告)日:2024-03-12

公开(公告)号:CN113848638B

主分类号:G02B26/08

分类号:G02B26/08;G09F9/33

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.12#授权;2022.01.14#实质审查的生效;2021.12.28#公开

摘要:带动态补偿功能的MicroLED光学系统涉及光机技术领域,解决了基于MicroLED的光学系统由于MicroLED芯片难免有坏点而无法大批量应用的问题,包括MicroLED显示芯片、第一透镜组、反射镜、位移机构、第二透镜组和成像平面,所述反射镜与位移机构连接,位移机构能带动反射镜移动;所述MicroLED显示芯片显示的图形通过第一透镜组汇聚在反射镜上,经反射镜反射后光束通过第二透镜组在成像平面成像。本发明通过位移机构带动反射镜移动,利用位移后的好的像素对原有坏点像素进行补偿,实现带有坏点的MicroLED光学系统可以正常工作,为MicroLED光学系统的实际应用奠定技术基础。

主权项:1.带动态补偿功能的MicroLED光学系统,其特征在于,包括MicroLED显示芯片、第一透镜组、反射镜、位移机构、第二透镜组和成像平面,所述反射镜与位移机构连接,位移机构能带动反射镜移动;所述MicroLED显示芯片显示的图形通过第一透镜组汇聚在反射镜上,经反射镜反射后光束通过第二透镜组在成像平面成像;所述反射镜移动前后在成像平面所成的像,利用人眼视觉暂留效应,能在成像平面观察到完整的图像;所述反射镜的移动方向垂直于反射镜镜面;所述MicroLED显示芯片为具有坏点的MicroLED显示芯片;所述反射镜移动前MicroLED显示芯片上坏点对应的成像平面区域为反射镜移动后MicroLED显示芯片上合格点对应的成像平面区域;还包括连接位移机构的控制单元,所述控制单元用于控制位移机构移动反射镜;所述控制单元用于分析反射镜是否需要位移、位移方向和位移距离,并根据分析结果控制位移机构带动反射镜移动;所述控制单元连接MicroLED显示芯片,控制单元能够根据分析结果控制MicroLED显示芯片显示;所述MicroLED光学系统的工作过程包括如下步骤:S1、MicroLED芯片显示正常图形;S2、MicroLED芯片关闭显示,位移机构带动反射镜移动;S3、MicroLED芯片显示补偿图形;S4、MicroLED芯片关闭显示,位移机构带动反射镜复位;所述MicroLED芯片显示正常图形时在成像平面所成的像与MicroLED芯片显示补偿图形时在成像平面所成的像,利用人眼视觉暂留效应,能在成像平面观察到完整的图像。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 带动态补偿功能的Micro LED光学系统

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