申请/专利权人：苏州法特迪科技股份有限公司

申请日：2023-12-05

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117724180A

主分类号：G01V8/10

分类号：G01V8/10;B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明一种ATE探针漏装检测方法涉及半导体精密仪器技术领域；所述方法在ATE探针漏装检测装置上实现，依次执行以下步骤：步骤a，针管装入针管治具板a；步骤b，接入传送机构；步骤c，治具块移出；步骤d，治具块检测；步骤e，漏装移除；步骤f，治具块移入；步骤g，检测完成；此方法能够实现：由传送机构将左侧的治具板的外框内的治具块移动至右侧空的外框内，在移动过程中，移除机构将内部未装入零件的治具块移除，使右侧空的外框内部的治具块均为装载有零件的治具块，使右侧的治具板的装入率达到百分之百，避免了工作人员手动挑选，提高了预组装的成品率。

主权项：1.一种ATE探针漏装检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤a，针管装入针管治具板a；将若干个针管投入针管治具板中，晃动针管治具板a，使针管落入针管治具板a的漏孔中；步骤b，接入传送机构；将步骤a中的针管治具板a的外框（1-1）一侧打开并接入传送机构（2）的左侧，将另一个针管治具板a内部未装入治具块（1-2）的外框（1-1）一侧打开接入传送机构（2）的右侧；步骤c，治具块移出；通过传送机构（2）的传送带（2-1）将左侧外框（1-1）内的治具块（1-2）送入引导框架（2-2）；步骤d，治具块检测；通过移除机构（3）的摄像头（3-1）判断引导框架（2-2）上的治具块（1-2）内部是否装入针管；步骤e，漏装移除；通过推板（3-2）将未装入针管的治具块（1-2）从引导框架（2-2）上移除；步骤f，治具块移入；通过传送带（2-1）将装入针管的治具块（1-2）送入右侧空的外框（1-1）内部；步骤g，检测完成；待该空的外框（1-1）内部装满治具块（1-2）后取下。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州法特迪科技股份有限公司 一种ATE探针漏装检测方法

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