申请/专利权人：江苏汇鼎光学眼镜有限公司

申请日：2021-04-27

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN113252310B

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2021.08.31#实质审查的生效;2021.08.13#公开

摘要：本发明公开了一种测量眼镜片三刺激值和透射比的方法，属于眼睛片检测技术领域；本发明采用光栅分光检测法，可以对屈光度范围为+25D至‑25D的眼镜片进行颜色的准确测量。可以实现对流水生产线上的眼镜片的三刺激值和透射比进行实时在线检测，并对不合格产品进行实时警告。本发明通过对眼镜片的关键参数三刺激值、蓝光透射比和光透射比进行实时监测，实现对眼镜片的品质控制。

主权项：1.一种测量眼镜片三刺激值和透射比的方法，其特征在于，采用光栅分光检测法，对屈光度范围为+25D至-25D的眼镜片进行准确测量，包括如下步骤：步骤1、当待测眼镜片8的前边缘移动到信号发生器22和信号探测器23之间时，由于待测眼镜片8的遮挡使得信号探测器23探测不到信号发生器22发出的信号，此时信号探测器23输出低电平信号；步骤2、电脑25收到信号探测器23发出的低电平信号后，控制流水线24停止运动开始进行颜色测量，获得不同波长的光对应的光功率值得到待测眼镜片8的透射光谱功率分布函数f1λ，待f1λ测量结束后，电脑25控制快门7关闭，同时控制流水线24开始运动；步骤3、待测眼镜片8继续在流水线24上前进，当待测眼镜片8的后边缘移动出信号发生器22和信号探测器23之间时，此时信号探测器23输出高电平信号；步骤4、电脑25收到信号探测器23发出的高电平信号后，控制流水线24停止运动开始进行背景测量，获得不同波长对应的光功率值得到背景透射光谱功率分布函数f2λ，f2λ测量结束，电脑25控制快门7关闭，同时控制流水线24开始运动；步骤5、电脑25进行数据处理：计算待测镜片的三刺激值以及蓝光透射比、光透射比；所述步骤2中颜色测量、获得不同波长的光对应的光功率值得到待测眼镜片8的透射光谱功率分布函数f1λ的具体方法如下：步骤2.1，打开快门7，使得光源1发出的光经过匀光准直后通过待测眼镜片8，透射光依次通过第二透镜9、变倍镜组10、补偿镜组11、第二滤光片12、分光镜13入射至光电二极管阵列21；电脑25控制变倍镜组10、补偿镜组11移动，使入射至光电二极管阵列21的会聚光斑大小发生改变，当光电二极管阵列21中的N*N个光电二极管中能探测到光信号的光电二极管的个数最少时，保持此时的变倍镜组10和补偿镜组11的位置不动；步骤2.2，经过所述的步骤2.1对变倍镜组10和补偿镜组11位置优化后，光源1发出的光经过匀光准直后通过待测眼镜片8，透射光依次通过第二透镜9、变倍镜组10、补偿镜组11、第二滤光片12、分光镜13的透射后会聚至第一狭缝14处进行空间滤光，然后经过第三透镜15准直后入射至光栅16表面，通过光栅16的分光作用，不同波长的光分别经过第四透镜17会聚通过第二狭缝18后入射至探测器19；步骤2.3，控制第二狭缝18移动，使不同波长的光依次入射至探测器19，记录每一个波长对应的光功率值得到待测眼镜片8的透射光谱功率分布函数f1λ；所述步骤4中进行背景测量，获得不同波长对应的光功率值得到背景透射光谱功率分布函数f2λ的具体方法如下：步骤4.1，打开快门7，使得光源1发出的光经过匀光准直后通过流水线24的狭缝，透射光依次通过第二透镜9、变倍镜组10、补偿镜组11、第二滤光片12、分光镜13入射至光电二极管阵列21；电脑25控制变倍镜组10、补偿镜组11移动，使入射至光电二极管阵列21的会聚光斑大小发生改变，当光电二极管阵列21中的N*N个光电二极管中能探测到光信号的光电二极管的个数最少时，保持此时的变倍镜组10和补偿镜组11的位置不动；步骤4.2，经过所述的步骤4.1对变倍镜组10和补偿镜组11位置优化后，光源1发出的光经过匀光准直后通过第二透镜9、变倍镜组10、补偿镜组11、第二滤光片12、分光镜13的透射后会聚至第一狭缝14处进行空间滤光，然后经过第三透镜15准直后入射至光栅16表面，通过光栅16的分光作用，不同波长的光分别经过第四透镜17会聚通过第二狭缝18后入射至探测器19；步骤4.3，控制第二狭缝18移动，使不同波长的光依次入射至探测器19，记录每一个波长对应的光功率值得到背景透射光谱功率分布函数f2λ。

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