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【发明授权】晶体管及制备方法_北京华碳元芯电子科技有限责任公司_202010759392.5 

申请/专利权人:北京华碳元芯电子科技有限责任公司

申请日:2020-07-31

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN114068703B

主分类号:H01L29/78

分类号:H01L29/78;H01L29/423;H01L29/10;H01L21/336

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2022.03.08#实质审查的生效;2022.02.18#公开

摘要:本发明公开了晶体管及制备方法。该晶体管包括衬底;低维材料层,所述低维材料层位于所述衬底上;源极、漏极以及栅极,所述源极和所述漏极分别位于所述栅极的两侧,所述栅极以及所述低维材料层之间间隔有栅介质层,所述源极和所述栅极之间,所述漏极和所述栅极之间均具有侧墙。所述衬底具有固定电荷,或所述衬底可与绝缘介质形成界面偶极子,所述绝缘介质包括所述栅介质层以及所述侧墙的至少之一。该晶体管对低维材料层进行静电掺杂的方式多样,成本低廉,可较好地与晶体管制备工艺兼容。

主权项:1.一种晶体管,其特征在于,包括:衬底;低维材料层,所述低维材料层位于所述衬底上;源极、漏极以及栅极,所述源极和所述漏极分别位于所述栅极的两侧,所述栅极以及所述低维材料层之间间隔有栅介质层,所述源极和所述栅极之间,所述漏极和所述栅极之间均具有侧墙,所述衬底与绝缘介质形成界面偶极子,所述绝缘介质包括所述栅介质层以及所述侧墙的至少之一。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京华碳元芯电子科技有限责任公司 晶体管及制备方法

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