申请/专利权人：芯瞳半导体技术(山东)有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117743125A

主分类号：G06F11/34

分类号：G06F11/34;G06F11/30

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明实施例公开了一种基于FPGA测试芯片总线性能的方法、装置及介质，该方法可以包括：通过应用软件向FPGA芯片发送配置命令，以使得所述FPGA芯片根据所述配置命令构建GPU芯片总线性能测试的框架；将FPGA芯片的时钟频率等比例降频以获得降频后的时钟频率；根据所述降频后的时钟频率设置和运行所述GPU芯片总线性能测试的框架以及使能所述FPGA芯片以获得仿真的性能测试数据，其中，所述仿真的性能测试数据至少包括性能参数吞吐率、时延以及数据传输速率；应用软件读取所述仿真的性能测试数据并进行计算以绘制实时的性能曲线。

主权项：1.一种基于FPGA原型验证芯片总线性能的方法，其特征在于，所述方法应用于FPGA原型验证芯片总线性能的系统，所述方法包括：通过应用软件向FPGA芯片发送配置命令，以使得所述FPGA芯片根据所述配置命令构建GPU芯片总线性能测试的框架；将FPGA芯片的时钟频率等比例降频以获得降频后的时钟频率；根据所述降频后的时钟频率设置和运行所述GPU芯片总线性能测试的框架以及使能所述FPGA芯片以获得仿真的性能测试数据，其中，所述仿真的性能测试数据至少包括性能参数吞吐率、时延以及数据传输速率；应用软件读取所述仿真的性能测试数据并进行计算以绘制实时的性能曲线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 芯瞳半导体技术(山东)有限公司 基于FPGA原型验证芯片总线性能的方法、装置及介质

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