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【发明授权】患病机率预测方法与电子装置_宏碁股份有限公司;阳明大学_201910720427.1 

申请/专利权人:宏碁股份有限公司;阳明大学

申请日:2019-08-06

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN112349412B

主分类号:G16H50/30

分类号:G16H50/30;G16H50/20

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.22#授权;2021.03.02#实质审查的生效;2021.02.09#公开

摘要:本发明提供一种患病机率预测方法与电子装置。所述方法包括:决定路径长度;从罹患特定疾病的病史数据中获得符合路径长度的第一路径;从第一路径中获得与特定疾病正相关的第二路径;对第二路径进行筛选以获得第三路径,并根据第三路径建立预测模型;以及将欲被预测的路径输入至预测模型并输出罹患特定疾病的机率。

主权项:1.一种患病机率预测方法,用于电子装置,所述方法包括:决定路径长度,其中,路径是一病患依序罹患或被诊断出的疾病,所述路径长度即为所述病患依序罹患或被诊断出的所述疾病的数量;根据所述路径长度,从罹患特定疾病的多个病史数据中获得符合所述路径长度的多个第一路径,其中所述第一路径是由罹患所述特定疾病之前且依序罹患的其他疾病所构成;根据所述多个第一路径,从所述多个第一路径中获得与所述特定疾病正相关的多个第二路径;对所述多个第二路径进行筛选以获得多个第三路径,并根据所述多个第三路径建立预测模型;以及将一欲被预测的路径输入至所述预测模型并输出所述欲被预测的路径罹患所述特定疾病的机率,其中所述欲被预测的路径是由多个疾病所构成,其中对所述多个第二路径进行筛选以获得所述多个第三路径的步骤包括:根据所述多个第二路径,产生对应于多个模式的多个变数;使用多个模型对所述多个变数进行筛选,以从所述多个变数中获得多个最佳变数;以及将所述多个最佳变数还原成对应于所述多个最佳变数的所述多个第三路径,其中,所述多个模式相关于所述多个第二路径中的每一个第二路径中疾病的位置、疾病的顺序以及疾病的数量的排列组合。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 宏碁股份有限公司;阳明大学 患病机率预测方法与电子装置

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