申请/专利权人:镇江矽佳测试技术有限公司
申请日:2023-08-28
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN220635360U
主分类号:B07C5/00
分类号:B07C5/00;B07C5/36;B07C5/38
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.03.22#授权
摘要:本实用新型涉及一种集成电路芯片OS测试机,包括底板,所述底板上设有顶出机构,所述顶出机构包括固定安装于底板上表面的测试机本体,所述测试机本体上表面固定安装有测试插座,所述测试插座上表面开设有插接口,所述测试插座内部开设有空腔,所述空腔内腔下表面固定安装有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆顶部固定安装有顶出板。该集成电路芯片OS测试机,通过在底板上设有顶出机构,可以将测试不合格的芯片从测试机上顶出掉落,再通过收集盒来对测试不合格的芯片进行收集,使用方便快捷,便于对芯片进行分拣分类,解决了现有技术中的测试设备无法在对不合格的芯片进行标记,不容易区分合格芯片与不合格芯片,导致分拣混乱的问题。
主权项:1.一种集成电路芯片OS测试机,包括底板1,其特征在于:所述底板1上设有顶出机构;所述顶出机构包括固定安装于底板1上表面的测试机本体2,所述测试机本体2上表面固定安装有测试插座3,所述测试插座3上表面开设有插接口4,所述测试插座3内部开设有空腔5,所述空腔5内腔下表面固定安装有电动伸缩杆6,所述电动伸缩杆6顶部固定安装有顶出板7,所述底板1表面固定安装有控制器10。
全文数据:
权利要求:
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