申请/专利权人：上海嘉慧光电子技术有限公司

申请日：2018-08-13

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN108809418B

主分类号：H04B10/079

分类号：H04B10/079;H04J14/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.29#授权;2019.05.10#著录事项变更;2018.12.07#实质审查的生效;2018.11.13#公开

摘要：本发明的目的是提供一种LAN_WDM光器件检测装置及方法，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4X1_CWDM波分复用器，使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。

主权项：1.一种LAN_WDM光器件检测装置，其中，该装置包括：FCPC接口的四波长激光器；FCPC接口的第一4X1_CWDM波分复用器，所述FCPC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器的四个输入端；FCPC接口的电动高速偏振模块，所述第一4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至所述电动高速偏振模块的输入端；FCPC接口的1X4_CWDM波分复用器，所述电动高速偏振模块的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器的输入端；FCPC接口的四路1X1单模光开关，所述1X4_CWDM波分复用器的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关的输入端；分别与所述电动高速偏振模块和四路1X1单模光开关连接的MCU；FCPC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器，所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器的输入端，所述4路单模光分路器的每路输出端分成两路，形成共8路FCPC的输出端；FCPC接口的第二4X1_CWDM波分复用器，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端；五路FCPC接口的法兰口，所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至其中一路法兰口，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口；PD探测器。

全文数据：LAN_WDM光器件检测装置及方法技术领域[0001]本发明涉及一种LAN_WDM光器件检测装置及方法。背景技术[0002]现有的LAN一WDM光器件检测装置用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗IL和偏振相关损耗PDL。如图1所示，现有的LAN_WDM光器件检测装置需要4个独立光源LD1、LD2、LD3、LD4和4个电动偏振PCI、PC2、PC3、PC4。[0003]LAN_WDM光器件DUT随着快速增加，图1所示的LAN_WDM光器件检测装置，只能对FC、LC、SC接口类的LAN_WDM光器件DUT1进行检测，而对FA接口类的LAN_WDM光器件DUT1测试困难或无法检测。发明内容[0004]本发明的一个目的是提供一种LANJTOM光器件检测装置及方法。[0005]根据本发明的一个方面，提供了一种LAN_WDM光器件检测装置，该LAN_WDM光器件检测装置包括：[0006]FCPC接口的四波长激光器；[0007]FCPC接口的第一4X1_CWDM波分复用器，所述FCPC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器的四个输入端；[0008]FCPC接口的电动高速偏振模块，所述第一4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至所述电动高速偏振模块的输入端；[0009]FCPC接口的1X4_CWDM波分复用器，所述电动高速偏振模块的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器的输入端；[0010]FCPC接口的四路IX1单模光开关，所述1X4_CWDM波分复用器的四个输出端分别连接所述四路1n单模光开关的输入端；[0011]分别与所述电动高速偏振模块和四路in单模光开关连接的mcu;[0012]FCPC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器，所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器的输入端，所述4路单模光分路器的每路输出端分成两路，形成共8路FCPC的输出端；[0013]FCPC接口的第二4X1_CWDM波分复用器，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1—CWDM波分复用器的一路输入端；[0014]五路FCPC接口的法兰口，所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至其中一路法兰口，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰P;[0015]PD探测器。[0016]进一步的，上述LAN_WDM光器件检测装置中，所述PD探测器的直径为5ram。[0017]本发明还提供—种LAN_WDM光器件检测方法，采用上述的LAN—WDM光器件检测装置，该方法包括：[0018]准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FCPC光纤的另—端连接至连接PD探测器；[0019]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;[0020]将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；[0021]将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个输入端，将LAN_WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；[0022]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0023]得出LANWDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。[0024]进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：[0025]所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述【U通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBmjnin相减得到当前通道的偏振相关损耗。[0026]进一步的，上述方法中，所述方法还包括：[0027]将一条标准FCPC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端，另一端连接PD探测器；[0028]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;[0029]将所述标准FCPC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端保持连接，另一端与所述PD探测器断开连接；[0030]将所述标准FCPC光纤的另一端连接至LANJVDM光器件的输入端；[0031]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0032]得出LANWDM四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7_dBm3、dBm8_dBm4。[0033]进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：[0034]通过MCU控制电动偏振控制器运行，M⑶通过按键切换到所述四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm-max和dBm-min，将dBm-max和dBm-min相减得到此通道的偏振相关损耗。[0035]进一步的，上述方法中，所述方法还包括：[0036]准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FCPC光纤的另一端连接至连接PD探测器；[0037]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;[0038]将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；[0039]将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LAN_WDM光器件的COM端连接至所述PD探测器；[0040]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0041]得出LAN—WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6_dBm2、dBm7_dBm3、dBm8-dBm4。[0042]进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：[0043]所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。[0044]与现有技术相比，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，为集成度较高的检测装置。本发明能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4Xl_CffDM波分复用器，使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。附图说明[0045]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：[0046]图1示出现有的LANJVDM光器件检测装置的示意图；[0047]图2示出本发明一实施例的FCLCSCST等接口、基于AWG芯片的LAN_WDM被测器件的PDL、IL测试光路搭建图；[0048]图3示出本发明一实施例的FA接口（一进四出分在两端基于AWG芯片的LAN_WDM光器件roLil测试光路搭建图；[0049]图4示出本发明一实施例的FA接口（一进四出在同一端基于AWG芯片的LAN_WDM光器件TOLIL测试光路搭建图。[0050]附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。具体实施方式[0051]下面结合附图对本发明作进一步详细描述。[0052]如图2〜4所不，本发明提供一种LAN_WDM光器件检测装置，包括：[0053]FCPC接口的四波长激光器；[0054]FCPC接口的第一4X1_CWDM波分复用器1，所述FCPC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器1的四个输入端；[0055]FCPC接口的电动高速偏振模块2，所述第一4X1_CWDM波分复用器1的输出端连接至所述电动高速偏振模块2的输入端；[0056]FCPC接口的1X4_CWDM波分复用器3,所述电动高速偏振模块2的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器3的输入端；[0057]FCPC接口的四路1X1单模光开关4,所述1X4_CWDM波分复用器3的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关4的输入端；[0058]分别与所述电动高速偏振模块2和四路1X1单模光开关4连接的MCU微控制单元，MicrocontrollerUnit；[0059]FCPC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器5,所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器5的输入端，所述4路单模光分路器5的每路输出端分成两路，形成共8路FCPC的输出端;其中，50:50表示把每路输入光功率平均分成两路光输出，两路光输出中每路输出占输入光功率的一半；[0060]FCPC接口的第二4X1_CWDM波分复用器6,所述4路单模光分路器5的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端6;[0061]五路FCPC接口的法兰口7,所述第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端连接至其中一路法兰口7,所述4路单模光分路器5的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口7;[0062]PD探测器8。[0063]在此，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，为集成度较高的检测装置。本发明能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4X1_CWDM波分复用器6,使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。[0064]基于AWG的LANJVDM器件检测主要包含MUX与DEMUX两种结构的检测。MUX与DEMUX的主要区别:MUX器件是四波长输入复合波长单输出，DEMUX器件是单通道复合波输入4波长解复输出。[0065]本发明的LAN_WDM光器件检测装置一实施例中，所述PD探测器的直径为5mm。[0066]在此，本光路采用一个®5臟ro。由于FA接口的LAN_WDM结构间距100um级别，间距非常小，不能用四个普通0.3mm探测器。因为同时4个普通①0.3mm探测器不仅成本过高，同时不能直接检测FA接口的四个通道功率，必须分别引出了极不方便，用一个①PD探测器可直接测4路FA接口，如图3所示，FA接口被测器件直接顶在①TO探测器上，相当方便。[0067]如图2所示，本发明还提供一种LANJTOM光器件检测方法，采用上述LANJTOM光器件检测装置，所述方法包括：[0068]准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口7，将各条标准FCPC光纤的另一端连接至连接PD探测器8;[0069]通过所述MCU，依次切换四路单模光开关4,记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;[0070]将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口7保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；[0071]将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN—WDM光器件的四个输入端，将LAN—WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；[0072]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0073]得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6_dBm2、dBm7_dBm3、dBm8_dBm4。[0074]如图2所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6_dBm2、dBm7_dBm3、dBm8_dBm4之后，还包括：[0075]所述M⑶控制电动高速偏振模块2运行，所述MCU通过按键切换到四路in单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max最大值和dBm_min最小值），dBm_max与dBm_min相减即可得到当前通道的偏振相关损耗。[0076]具体的，FC_PC接口的LANJVDM器件测试如图2所示，具体测试原理如下：[0077]四进一出基于AWG的LAN_WDM的插损IL检测方法MUX4路输出和1路输入）：[0078]首先将四条标准FCPC光纤的一端连接至四个FC_PC法兰7四路输出端，另一端依次连接PD探测器8，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4。[0079]此后，依次将标准FCPC光纤从连接至ro探测器8的取出，连接至LAN_WDM的四个输入端。LAN_WDM的输出端连接至PD探测器8。此时依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为1151115、1131116、1131]17、181118。此时可以得出1^1\1_1〇]^四路插损分别为^1115-1131111、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。[0080]—进四出基于AWG的LAN_WDM插损的检测方法DEMUX:[0081]此方法和四进一出检测一样。器件倒过来检测即可。[0082]LANJVDM的PDL测试：[0083]M⑶控制电动高速偏振模块运行，MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBmjnax和dBm_min，相减即可得到当前通道的F»DL。[0084]如图3所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，所述方法，还包括：[0085]将一条标准FCPC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端6,另一端连接ro探测器8;[0086]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关4,记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBin4;[0087]将所述标准FCPC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端保持连接，另一端与所述ro探测器s断开连接；[0088]将所述标准FCPC光纤的另一端连接至LAN_WDM光器件的输入端；[0089]通过所述MCU，依次切换四路1H单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0090]得出LAN—WDM四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。[0091]如图3所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：[0092]通过M⑶控制电动偏振控制器运行，MCU通过按键切换到所述四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max和dBm_min相减即可得到此通道的偏振相关损耗。[0093]具体的，一进四出分在两端组成FA接口的LANJTOM器件测试如图3所示：[0094]由于FA接口的LAN_WDM结构间距lOOum级别，间距非常小，不能用四个普通_•3圓的PD，本光路采用一个〇5ramro检测具体测试原理如下：[0095]首先将一条标准FCPC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端，另一端连接PD探测器8，依次切换四路1X1单模光开关4，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4〇[0096]此后，将所述标准FCPC光纤连接至PD探测器8的断开后，连接至LAN_WDM的输入端。LAN_WDM的输出端直接对接至PD探测器8上。此时依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8。此时可以得出LANJTOM四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6_dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。[0097]LAN_WDM的PDL测试：[0098]MCU控制电动偏振控制器运行，M⑶通过按键切换到所述四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBmjnax和dBmjnin，相减即可得到此通道的TOL。[0099]如图4所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，还包括：[0100]准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口7，将各条标准FCPC光纤的另一端连接至连接ro探测器8;[0101]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关4,记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;[0102]将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口7保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；[0103]将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LAN_WDM光器件的COM端连接至所述PD探测器8;[0104]通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8;[0105]得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。[0106]如图4所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6_dBm2、dBm7-dBm3、dBm8_dBm4之后，还包括：[0107]所述MCU控制电动高速偏振模块2运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max最大值和dBm_min最小值），dBm_max与dBm_min相减即可得到当前通道的偏振相关损耗。[0108]具体的，一进四出在同一端组成FA接口的LAN_WDM器件测试如图4所示，对于此种器件的检测将同一段五个端口分别接至五路FC_PC引出，其中，对应于：犯、^2、^3、^4的接口连接至剩余的四路法兰口7X0M端连接至5MM探测器，具体检测方法和图2—样。[0109]如图4所示，LAN_WDM光器件的五路FC_PC的接口中，从左到右依次是1330nmFC_PC接口、1310nmFC_PC接口、1290nmFC_PC接口、1270nmFC_PC接口和COM端探测器FC_PC接口。[0110]CHI、CH2、CH3、CH4分别代表LAN_WDM光器件的四个波长，COM端代表被测器件公共端。具体CHI、CH2、CH3、CH4代表哪个波长看LANJTOM光器件的波长参数。综上所述，本发明具有如下优点：[0112]①效率提高:5倍。[0113]②成本降低:70%。[0114]③结果准确:减少插拔误差。[0115]④操作简单:一键自动化检测。[0116]显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。[0117]对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此夕卜，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。

权利要求：1.一种LAN_WDM光器件检测装置，其中，该装置包括：FCPC接口的四波长激光器；FCPC接口的第一4X1_CWDM波分复用器，所述FCPC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器的四个输入端；FCPC接口的电动高速偏振模块，所述第一4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至所述电动高速偏振模块的输入端；FCPC接口的1X4_CWDM波分复用器，所述电动高速偏振模块的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器的输入端；FCPC接口的四路1X1单模光开关，所述W4_CWDM波分复用器的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关的输入端；分别与所述电动高速偏振模块和四路1X1单模光开关连接的MCU;FCPC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器，所述四路11单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器的输入端，所述4路单模光分路器的每路输出端分成两路，形成共8路FCPC的输出端；FCPC接口的第二4X1_CWDM波分复用器，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端；五路FCPC接口的法兰口，所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至其中一路法兰口，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口；PD探测器。2.根据权利要求1所述的LAN_WDM光器件检测装置，其中，所述PD探测器的直径为5mni。3.—种LAN_WDM光器件检测方法，其中，采用如权利要求1或2所述的LAN_WDM光器件检测装置，该方法包括：准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FCPC光纤的另一端连接至连接PD探测器；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个输入端，将LAN_WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5_dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。4.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7_dBm3、dBm8_dBm4之后，还包括：所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。5.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，所述方法还包括：将一条标准FCPC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端，另一端连接PD探测器；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;将所述标准FCPC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端保持连接，另一端与所述ro探测器断开连接；将所述标准FCPC光纤的另一端连接至LAN_WDM光器件的输入端；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。6.如权利要求5所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6-dBm2、dBm7_dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：通过MCU控制电动偏振控制器运行，M⑶通过按键切换到所述四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max和dBm_min相减得到此通道的偏振相关损耗。7.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，所述方法还包括：准备四条标准FCPC光纤，将各条标准FCPC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FCPC光纤的另一端连接至连接PD探测器；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBml、dBm2、dBm3、dBm4;将各条标准FCPC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FCPC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；将各条标准FCPC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LANJVDM光器件的COM端连接至所述PD探测器；通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。8.如权利要求7所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5_dBml、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。

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