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【发明公布】单片集成在同一半导体管芯中的沟槽栅极NMOS晶体管和沟槽栅极PMOS晶体管_英飞凌科技奥地利有限公司_202311279468.4 

申请/专利权人:英飞凌科技奥地利有限公司

申请日:2023-09-28

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117810228A

主分类号:H01L27/092

分类号:H01L27/092;H01L21/8238

优先权:["20220930 US 17/957035"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.02#公开

摘要:本公开涉及单片集成在同一半导体管芯中的沟槽栅极NMOS晶体管和沟槽栅极PMOS晶体管。一种半导体管芯包括:硅基底;沟槽栅极NMOS晶体管,被形成在所述硅基底的第一装置区中;沟槽栅极PMOS晶体管,被形成在所述硅基底的第二装置区中,并且按照电气方式连接到所述沟槽栅极NMOS晶体管;和隔离结构,被插入在所述第一装置区和所述第二装置区之间。还描述了将沟槽栅极NMOS晶体管和沟槽栅极PMOS晶体管单片集成同一半导体管芯中的方法。

主权项:1.一种半导体管芯,包括:硅基底;沟槽栅极NMOS晶体管,被形成在所述硅基底的第一装置区中;沟槽栅极PMOS晶体管,被形成在所述硅基底的第二装置区中,并且按照电气方式连接到所述沟槽栅极NMOS晶体管;和隔离结构,被插入在所述第一装置区和所述第二装置区之间。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 英飞凌科技奥地利有限公司 单片集成在同一半导体管芯中的沟槽栅极NMOS晶体管和沟槽栅极PMOS晶体管

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