申请/专利权人：中电科思仪科技股份有限公司

申请日：2023-12-30

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805504A

主分类号：G01R29/10

分类号：G01R29/10;G01R35/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明属于天线环境效应参数测试领域，具体涉及一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法。所述方法通过对标准校准天线有、无保温透波罩下的两组多维矢量数据测量，获取基础校准数据；通过对基础校准数据的矢量运算，得到透波罩插损补偿因子S罩、环境影响补偿因子S环境，再利用这两个补偿因子校准实际测量数据的幅相误差；并且通过对幅相误差补偿后的数据做进一步的模式滤波处理，进一步消除透波罩反射误差影响，提升测试精度。

主权项：1.一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法，其特征在于，所述幅相校准方法包括：步骤一：获取没有保温罩时，包含位置、频率两个变量以及包含温度、湿度两个定量的空间传输矢量数据矩阵S1；并获取有保温罩时，包含位置、频率、温度、湿度四个变量的空间传输矢量数据矩阵S2；根据空间传输矢量数据矩阵S1和空间传输矢量数据矩阵S2两组多维矢量数据，完成透波罩插损补偿因子、环境影响补偿因子的获取，并对测试数据进行初始校准；步骤二：对初始校准后数据做模式域滤波处理，消除天线罩反射误差的影响，完成天线环境效应参数测试数据的幅相校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中电科思仪科技股份有限公司 一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法

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