申请/专利权人:中电科思仪科技股份有限公司
申请日:2023-12-30
公开(公告)日:2024-04-02
公开(公告)号:CN117805504A
主分类号:G01R29/10
分类号:G01R29/10;G01R35/00
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开
摘要:本发明属于天线环境效应参数测试领域,具体涉及一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法。所述方法通过对标准校准天线有、无保温透波罩下的两组多维矢量数据测量,获取基础校准数据;通过对基础校准数据的矢量运算,得到透波罩插损补偿因子S罩、环境影响补偿因子S环境,再利用这两个补偿因子校准实际测量数据的幅相误差;并且通过对幅相误差补偿后的数据做进一步的模式滤波处理,进一步消除透波罩反射误差影响,提升测试精度。
主权项:1.一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法,其特征在于,所述幅相校准方法包括:步骤一:获取没有保温罩时,包含位置、频率两个变量以及包含温度、湿度两个定量的空间传输矢量数据矩阵S1;并获取有保温罩时,包含位置、频率、温度、湿度四个变量的空间传输矢量数据矩阵S2;根据空间传输矢量数据矩阵S1和空间传输矢量数据矩阵S2两组多维矢量数据,完成透波罩插损补偿因子、环境影响补偿因子的获取,并对测试数据进行初始校准;步骤二:对初始校准后数据做模式域滤波处理,消除天线罩反射误差的影响,完成天线环境效应参数测试数据的幅相校准。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中电科思仪科技股份有限公司 一种用于天线环境效应参数测试的幅相校准方法
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