申请/专利权人:桂林芯隆科技有限公司
申请日:2023-08-23
公开(公告)日:2024-04-02
公开(公告)号:CN220709223U
主分类号:G01R1/04
分类号:G01R1/04;G01R31/28
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.02#授权
摘要:本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种光接收芯片测试设备,包括测试台和防护组件,防护组件包括转向块、测试板、测试头、防护箱、转动块和防护板,转向块用于转动测试板,测试板位于转向块远离测试台的一侧,测试头固定安装在测试板的下表面,防护箱固定安装在测试台的上表面,转动块用于转动防护板,防护板位于转动块远离防护箱的一侧,通过防护箱和防护板对测试头进行完全防护,从而避免了测试头直接裸露在空气中会导致空气中的灰尘等杂质附着在测试头上而对测试头的测试效果造成影响。
主权项:1.一种光接收芯片测试设备,包括测试台,其特征在于,还包括防护组件,所述防护组件包括转向块、测试板、测试头、防护箱、转动块和防护板,所述转向块用于转动所述测试板,所述测试板位于所述转向块远离所述测试台的一侧,所述测试头固定安装在所述测试板的下表面,所述防护箱固定安装在所述测试台的上表面,所述转动块用于转动所述防护板,所述防护板位于所述转动块远离所述防护箱的一侧。
全文数据:
权利要求:
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