申请/专利权人：深圳超盈智能科技有限公司

申请日：2023-07-27

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN220709291U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/073;B08B1/12;B08B1/20

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权

摘要：本申请涉及芯片生产技术领域，尤其涉及一种芯片测试用工作台，针对现有芯片测试台无法清洁导电探针的不足，所采用的方案为：包括底座；底座设置有芯片检测工位；芯片测试用工作台还包括导电探针组、安装在底座上的纵移组件；导电探针组用于与芯片检测工位上的待测芯片接触；纵移组件用于带动导电探针组沿纵向方向靠近或远离芯片检测工位；芯片测试用工作台还包括安装在底座上的清洁组件；清洁组件用于清洁导电探针组；纵移组件还用于带动导电探针组沿纵向方向靠近或远离清洁组件。通过前述方案，可以对导电探针组进行清洁，使得导电探针组可以保持良好的导电性能。

主权项：1.一种芯片测试用工作台，包括底座；所述底座设置有芯片检测工位；所述芯片测试用工作台还包括导电探针组、安装在所述底座上的纵移组件；所述导电探针组用于与所述芯片检测工位上的待测芯片接触；所述纵移组件用于带动所述导电探针组沿纵向方向靠近或远离所述芯片检测工位；其特征在于，所述芯片测试用工作台还包括安装在所述底座上的清洁组件；所述清洁组件用于清洁所述导电探针组；所述纵移组件还用于带动所述导电探针组沿纵向方向靠近或远离所述清洁组件。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳超盈智能科技有限公司 一种芯片测试用工作台

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