申请/专利权人：申云川

申请日：2024-01-16

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117840033A

主分类号：B07B1/34

分类号：B07B1/34;B65G47/74;B07B1/42;B07B1/46

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种电子元件品质检测筛分方法，涉及电子元件检测领域，包括以下步骤：S1、电子元件的放入，将电子元件从筛分装置的壳体的进料管放入，使得电子元件落入下方的筛分组件上进行多次筛分处理；S2、调节下料速度，调节组件对进料管的空间进行调节，降低下料速度；S3、防堵，晃动组件对调节组件进行敲击，通过调节组件实现活动板的晃动，预防进料管堵塞。本申请可以根据筛分效率调节下料速度，避免筛分时筛网上堆积过多的电子元件降低筛分效率，同时避免下料时出现堵塞现象。

主权项：1.一种电子元件品质检测筛分方法,其特征在于,包括以下步骤：S1、电子元件的放入，将电子元件从筛分装置的壳体（1）的进料管（101）放入，使得电子元件落入下方的筛分组件（6）上进行多次筛分处理；S2、调节下料速度，调节组件（3）对进料管（101）的空间进行调节，降低下料速度；S3、防堵，晃动组件（4）对调节组件（3）进行敲击，通过调节组件（3）实现活动板（103）的晃动，预防进料管（101）堵塞。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 申云川 一种电子元件品质检测筛分方法

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