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【发明公布】一种不易裂片失效的整流二极管封装工艺_连云港瑞而盛电子科技有限公司_202310272090.9 

申请/专利权人:连云港瑞而盛电子科技有限公司

申请日:2023-03-20

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117855062A

主分类号:H01L21/56

分类号:H01L21/56;H01L21/60;H01L23/29;H01L21/603;B23K31/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明涉及二极管封装技术领域,且公开了一种不易裂片失效的整流二极管封装工艺,包括以下具体步骤:整流二极管的焊接材料匹配标准:引线冒头直径不小于芯片最大对角线,对应面积误差率小于0.2%;用石墨舟排好引线,装上冒头、芯片、焊片作底模,将石墨舟排好引线的另一模刷上助焊剂作上模;该不易裂片失效的整流二极管封装工艺,通过控制冒头与芯片之间尺寸配合,以降低对应面积的误差率,避免偏心,提高焊接质量,同时控制模面表面的温度,并控制合模时的压力和冲击力,从而提高二极管封装合模的效果,避免二极管在合模过程中出现裂纹,从而防止二极管在使用过程中出现局部高温击穿破损的现象,提高二极管的使用性能。

主权项:1.一种不易裂片失效的整流二极管封装工艺,其特征在于,包括以下具体步骤:S1、整流二极管的焊接材料匹配标准:引线冒头直径不小于芯片最大对角线,对应面积误差率小于0.2%;S2、用石墨舟排好引线,装上冒头、芯片、焊片作底模,将石墨舟排好引线的另一模刷上助焊剂作上模,并进行焊接;焊接后,测试产品焊接承受拉力是否合格,焊接合格产品进入塑封工序准备封装;S3、将焊接好产品逐行转入模架,再将模架上的产品平放在压机模具上,模面温度为185-190℃;S4、在进行上下模合模封装过程中,上下模合模间距在2厘米位置时,合模行程降速,合模碰撞时速度不大于0.005ms。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 连云港瑞而盛电子科技有限公司 一种不易裂片失效的整流二极管封装工艺

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