申请/专利权人:广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日:2024-01-22
公开(公告)日:2024-04-09
公开(公告)号:CN117849589A
主分类号:G01R31/28
分类号:G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02;G01S7/40;G01S7/02
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开
摘要:本公开揭示了一种24GHz毫米波雷达芯片测试装置,所述装置包括依次电连接的自动测试机、微控制单元、下变频单元和待测24GHz毫米波雷达芯片,所述下变频单元用于在所述微控制单元的控制下将所述待测24GHz毫米波雷达芯片的输出频率下变频到所述自动测试机的频率测试范围。本公开通过对待测24GHz毫米波雷达芯片的输出频率进行下变频处理,使得具有高频信号的待测24GHz毫米波雷达芯片能够在针对低频信号测试的低端测试机上进行测试,从而降低了测试成本。
主权项:1.一种24GHz毫米波雷达芯片测试装置,其中,所述装置包括依次电连接的自动测试机、微控制单元、下变频单元和待测24GHz毫米波雷达芯片,所述下变频单元用于在所述微控制单元的控制下将所述待测24GHZ毫米波雷达芯片的输出频率下变频到所述自动测试机的频率测试范围。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 广东利扬芯片测试股份有限公司 一种24GHz毫米波雷达芯片的测试装置及方法
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