申请/专利权人：福建中科光芯光电科技有限公司

申请日：2024-01-19

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117856895A

主分类号：H04B10/079

分类号：H04B10/079;H04B10/564;H04B10/572;H04J14/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明涉及一种用于高端口波长选择开关的测试系统及自动测试方法。本发明旨在利用时序处理器将光谱进行时序编码，然后在计算机中进行傅里叶变换提取待测WSS设备的指标情况，解决WSS测试效率低下，操作繁琐的问题，并在此基础上通过高分辨率、低成本的设备保证测试精度。

主权项：1.一种用于高端口波长选择开关的测试系统，其特征在于，包括：光源，用于收集计算机给出的光功率开关信号后，输出波长光信号；时序处理器，用于将光源输出的波长光信号进行时序化处理，使输入至待测WSS设备的波长光信号是时间相关序列的；偏振控制器，用于在测试偏振相关指标时，将已时序处理的波长光信号进行偏振处理；待测WSS设备，用于接收偏振控制器处理后的波长光信号并进行波长选择；光功率计，用于测量波长光信号的功率时序信号；计算机，用于控制整个测试系统的测试动作，包括光源的启停、时序处理器的启停、偏振控制器的扰偏、待测WSS设备控制、光功率计数据收集以及对数据的时域-频域转化。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 福建中科光芯光电科技有限公司 一种用于高端口波长选择开关的测试系统及自动测试方法

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