申请/专利权人:太极半导体(苏州)有限公司
申请日:2020-11-09
公开(公告)日:2024-04-09
公开(公告)号:CN112509960B
主分类号:H01L21/68
分类号:H01L21/68
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.09#授权;2021.04.02#实质审查的生效;2021.03.16#公开
摘要:本发明公开了一种3D晶圆环切后的定位方法,先对晶圆进行环切,去除晶圆外圈的厚度异常部位,再对环切后的晶圆进行两道平切,加工出一道短边和一道长边;通过物理方式对短边的一侧进行定位,通过感光传感器识别长边,进行长边一侧的定位;本方案取消了晶圆边缘的定位点,为3D晶圆的边沿的二次环切加工提出可能性;并在环切后的晶圆的边缘加工出长短边,设备镜头识别长边,同时利用另外一个短边实现物理定位,提高了可检测检查的面积,减小定位难度,结合了光学定位和物理定位的优点,提高定位精度。
主权项:1.一种3D晶圆环切后的定位方法,其特征在于:先对晶圆(1)进行环切,去除晶圆(1)外圈的厚度异常部位(2),再对环切后的晶圆(1)进行两道平切,加工出一道短边(3)和一道长边(4);通过物理方式对短边(3)的一侧进行定位,通过感光传感器识别长边(3),进行长边一侧的定位。
全文数据:
权利要求:
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