申请/专利权人：株式会社理学

申请日：2022-05-10

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117836616A

主分类号：G01N23/223

分类号：G01N23/223;G01T1/36

优先权：["20210824 JP 2021-136599"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：在本发明中，无论X射线探测器的种类和前置放大器的电路结构如何，即使在高计数的X射线测量时也高速且高精度地进行X射线信号的峰值的测量。本发明具有：激发源；X射线探测器；输出模拟信号的前置放大器；将模拟信号转换为数字信号的AD转换器；检测入射定时的信号检测部；将数字信号转换为包含上升部和上升前后的平坦部的阶梯波的波形转换部；生成包含台阶或峰的整形波的波形整形部；基于入射定时和阶梯等测量峰值的峰值测量部、使用入射定时取得包含上升部的阶梯波的一部分，并使用包含多个取得的一部分和峰值的组的学习用数据而生成已学习这些相关关系的学习模型的学习部；以及使用入射定时从新转换的阶梯波中取得阶梯波的一部分，并基于取得的阶梯波的一部分和学习模型而计算预测峰值的峰值预测部。

主权项：1.一种X射线分析装置，其特征在于，具有：激发源，其用激发线照射样品；X射线探测器，其检测从所述样品产生的X射线，并产生与X射线的能量对应的电荷；前置放大器，其输出用于表示与产生所述电荷对应的电压的时间变化的模拟信号；AD转换器，其将所述模拟信号转换为数字信号；信号检测部，其检测从所述数字信号到所述X射线探测器的X射线的入射定时；波形转换部，其将所述数字信号转换为包含上升前的平坦部、上升部、上升后的平坦部的阶梯波；波形整形部，其对所述阶梯波进行整形，并生成包含台阶或峰的整形波；峰值测量部，其基于所述入射定时及所述整形波的台阶或峰而测量峰值；学习部，其使用所述入射定时取得包含所述上升部的所述阶梯波的一部分，并使用包含多个所取得的所述阶梯波的一部分和所述峰值的组的学习用数据而生成已学习所述阶梯波的一部分与所述峰值的相关关系的学习模型；以及峰值预测部，其使用所述入射定时从所述波形转换部新转换的阶梯波中取得所述阶梯波的一部分，并基于所取得的所述阶梯波的一部分和所述学习模型而计算预测峰值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社理学 X射线分析装置及峰值预测程序

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