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【发明公布】一种薄膜铌酸锂干法深刻蚀工艺_清华大学_202311751382.7 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2023-12-19

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117865218A

主分类号:C01G33/00

分类号:C01G33/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明涉及光学材料技术领域,尤其涉及一种薄膜铌酸锂干法深刻蚀工艺。本发明通过控制刻蚀气体的气压、比例以及刻蚀时间,可以调控铌酸锂的刻蚀速度和效果。可以得到刻蚀深度超过500nm,侧壁粗糙度小于10nm,侧壁倾角超过75°的薄膜铌酸锂器件。

主权项:1.一种薄膜铌酸锂干法刻蚀方法,其特征在于,包括:使用氩气和三氟甲烷作为刻蚀气体。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学 一种薄膜铌酸锂干法深刻蚀工艺

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