申请/专利权人：西门子工业软件有限公司

申请日：2021-08-27

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117882078A

主分类号：G06F30/30

分类号：G06F30/30

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：一种实施设计表征工具的计算系统，其可以对针对由电路设计描述的集成电路的制造变异的值的分布进行抽样。该设计表征工具可以基于电路设计的预测输出值对样本进行排序，所述电路设计在针对制造变异的值的所述样本中设置有特性。计算系统可以实施模拟仿真器以利用针对制造变异的值的样本的子集来仿真电路设计，以识别针对输出分布模型的仿真输出值。该设计表征工具可以基于输出分布模型中的仿真输出值来估计与电路设计的预测输出相关联的样本的排序中的误差。该设计表征工具可以修改输出分布模型，以基于所估计的样本的排序中的误差来校正偏差。

主权项：1.一种方法，包括：由计算系统对针对由电路设计描述的集成电路的制造变异的值的分布进行抽样；由所述计算系统基于所述电路设计的预测输出值对样本进行排序，所述电路设计在针对所述制造变异的值的所述样本中设置有特性；由所述计算系统利用针对所述制造变异的值的所述样本的子集来仿真所述电路设计，以识别针对输出分布模型的仿真输出值；由所述计算系统至少部分地基于所述输出分布模型中的所述仿真输出值来估计与所述电路设计的所述预测输出相关联的所述样本的所述排序中的误差；以及由所述计算系统修改所述输出分布模型，以至少部分地基于所估计的所述样本的所述排序中的误差来校正偏差，其中所修改的输出分布被用于对所述电路设计的操作变异到在所述值的所述分布中描述的所述制造变异进行表征。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西门子工业软件有限公司 通过分位数抽样对制造变异性特性进行分布估计

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