申请/专利权人：南京燧锐科技有限公司

申请日：2024-01-12

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117572045B

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.08#实质审查的生效;2024.02.20#公开

摘要：本发明涉及射频芯片的测试座，包括线路板；容纳位；设置在线路板和容纳位之间的导体针座；位于所述导体针座中的第一屏蔽探针；线路板的材料和形状、导体针座的材料和形状满足条件：使得测试时测试座中谐振腔的震荡频率不在预定频段。

主权项：1.一种射频芯片的测试座，其特征在于，包括：线路板；容纳位；设置在所述线路板和所述容纳位之间的导体针座；位于所述导体针座中的第一屏蔽探针；所述导体针座与所述容纳位之间具有空隙，所述导体针座与所述线路板之间具有间隙；所述线路板的材料和形状、所述导体针座的材料和形状满足条件：使得测试时所述测试座的内腔和待测芯片之间形成的谐振腔的震荡频率不在待测芯片的工作频段；所述容纳位与所述线路板之间间隙的高度小于待测芯片的最高频率工作波长。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京燧锐科技有限公司 射频芯片的测试座

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