申请/专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所

申请日：2020-08-31

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN112036110B

主分类号：G06F30/367

分类号：G06F30/367;G01T1/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2020.12.22#实质审查的生效;2020.12.04#公开

摘要：本发明涉及一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法，1针对器件级电路建立基本单元NMOS管和PMOS管的物理模型；2建立瞬时光电流模型；3在每个NMOS管和PMOS管并联瞬时光电流模型得到获得基本单元NMOS管和PMOS管的瞬时剂量率效应的SPICE微模型；4在SPICE仿真软件中输入模块级电路的电路配置文件和电路网表文件，在SPICE中得到模块级电路连接模型，并将所述SPICE微模型代入到模块级电路连接模型中建立模块级电路瞬时剂量率效应模型；5对步骤4得到的模块级电路瞬时剂量率效应模型在不同剂量率下模拟模块级电路产生的瞬时剂量率效应，监测是否获得模块级电路瞬时剂量率效应翻转阈值，若是，则完成仿真测试；若否则调整参数直至获得瞬时剂量率翻转阈值。

主权项：1.一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法，其特征在于，包括步骤如下：1针对器件级电路建立基本单元NMOS管和PMOS管的物理模型；2建立瞬时光电流模型，描述不同脉冲强度和剂量率情况下器件级电路中光电流以及二次光电流对器件级电路的影响；3在每个NMOS管和PMOS管并联步骤2得到的瞬时光电流模型获得基本单元NMOS管和PMOS管的瞬时剂量率效应的SPICE微模型；4在SPICE仿真软件中输入模块级电路的电路配置文件和电路网表文件，在SPICE仿真软件中建立模块级电路连接模型，将所述SPICE微模型代入到模块级电路连接模型中，在SPICE仿真软件中建立模块级电路瞬时剂量率效应模型；5固定电路测试激励、电路工作电压参数，对步骤4得到的模块级电路瞬时剂量率效应模型在不同剂量率下模拟模块级电路产生的瞬时剂量率效应，监测是否获得模块级电路瞬时剂量率效应翻转阈值，若是，则完成仿真测试；若否则执行6；瞬时剂量率翻转阈值是指模块级电路的输出在发生0-1或1-0的跳变所需的最小剂量率值，小于此值模块级电路不会发生翻转，大于此值会发生翻转；6调整电路测试激励和或电路工作电压参数继续执行步骤5进行仿真，监测模块级电路瞬时剂量率效应反应情况，直至获得瞬时剂量率翻转阈值。

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