申请/专利权人：江苏芯丰集成电路有限公司

申请日：2023-11-09

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117471280B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01N21/95;G01N21/956

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.02.20#实质审查的生效;2024.01.30#公开

摘要：本发明公开了一种集成电路芯片检测装置，涉及芯片检测领域，包括机箱、传送组件、扫描组件、导电组件，所述机箱的一侧设置有操作台，所述操作台内部设置有处理器，所述机箱的内部设置有连接箱、第二检测部、一组第二伸缩部，所述传送组件包括第一直线电机、滑轨，所述第一直线电机、滑轨之间设置有第一检测部，所述第一检测部的内部开设有若干检测腔，若干所述检测腔的内部设置有连接板，用于与芯片引脚相连接，所述扫描组件包括第二直线电机、扫描仪，所述导电组件包括电源、保护开关、连接导线、电路检测器，所述第一检测部的左右两侧设置有导线接口，该装置节省当前可靠性检测的检测空间和时间。

主权项：1.一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：包括：机箱（1），所述机箱（1）的一侧设置有操作台（2），所述操作台（2）内部设置有处理器，所述机箱（1）的内部设置有连接箱（27）、第二检测部（10）、一组第二伸缩部（28）；传送组件，所述传送组件包括第一直线电机（3）、滑轨（4），所述第一直线电机（3）、滑轨（4）之间设置有第一检测部（9），所述第一检测部（9）的内部开设有若干检测腔（19），若干所述检测腔（19）的内部设置有连接板（20），用于与芯片引脚相连接；扫描组件，所述扫描组件包括第二直线电机（5）、扫描仪（7）；导电组件，所述导电组件包括电源、保护开关、连接导线、电路检测器，所述第一检测部（9）的左右两侧设置有导线接口，所述导线接口与导电组件、操作台（2）电连接；所述检测腔（19）的底部贯穿设置有第一检测管（22），所述第一检测管（22）上设置有第三控制阀，所述第一检测部（9）的上方一侧转动连接有盖板（18），所述盖板（18）上设置有若干第二检测管（23），所述第二检测管（23）上设置有第一控制阀（37）；所述第二检测部（10）包括气泵（29），所述气泵（29）设置于连接箱（27）一侧，所述气泵（29）的输出端与连接箱（27）之间连接有若干第二分支管（40），所述连接箱（27）的上端连接有若干伸缩软管（33），且连接箱（27）内部设置若干流道，所述第二伸缩部（28）的输出端固定连接有支撑板（32），所述支撑板（32）的表面贯穿设置有若干第一通管（34），所述第一通管（34）与下方伸缩软管（33）固定连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 江苏芯丰集成电路有限公司 一种集成电路芯片检测装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD