申请/专利权人：上海犇芯半导体科技有限公司

申请日：2023-09-21

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN220773219U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权

摘要：本实用新型涉及芯片测试的技术领域，特别是涉及一种放大器芯片测试装置，其能够对不同尺寸芯片进行有效的测试，能够保证芯片稳定放置，便于拿取芯片；包括工作台；还包括测试台、限位机构、测试机构、定位机构和吸附机构，测试台的顶端开设有放置卡槽，测试台通过限位机构放置在工作台的顶端，所述限位机构包括两个L型固定板、两个延伸板、两组螺纹杆和两个压板，测试机构安装在工作台的顶端后部，所述测试机构包括固定臂、两个电动伸缩杆、移动板、检测板、检测仪和连接线，定位机构安装在测试机构上，吸附机构安装在工作台的下方。

主权项：1.一种放大器芯片测试装置，包括工作台（1）；其特征在于，还包括测试台（2）、限位机构、测试机构、定位机构和吸附机构，测试台（2）的顶端开设有放置卡槽，测试台（2）通过限位机构放置在工作台（1）的顶端，测试机构安装在工作台（1）的顶端后部，定位机构安装在测试机构上，吸附机构安装在工作台（1）的下方。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海犇芯半导体科技有限公司 一种放大器芯片测试装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD