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【发明授权】楼型拼合方法、装置、设备及存储介质_深圳须弥云图空间科技有限公司_202210120602.5 

申请/专利权人:深圳须弥云图空间科技有限公司

申请日:2022-02-07

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN114461104B

主分类号:G06F3/0481

分类号:G06F3/0481;G06F3/04845;G06F3/04883;G06T7/62

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2022.05.27#实质审查的生效;2022.05.10#公开

摘要:本公开提供了一种楼型拼合方法、装置、设备及存储介质,涉及建筑设计技术领域。该方法包括:显示第一楼栋和第二楼栋,第一楼栋上设置有第一拼合基准线,第二楼栋上设置有第二拼合基准线;接收对第一楼栋的第一输入,第一输入用于调整第一楼栋的位置;响应于第一输入,基于第一拼合基准线和第二拼合基准线,拼合第一楼栋和第二楼栋后,显示拼合后的楼型的轮廓。本公开实施例通过拼合基准线来进行楼栋拼合,降低了拼合后楼型不符合规范的概率,并且提高了拼合的效率,提升了楼型设计的效率。

主权项:1.一种楼型拼合方法,其特征在于,所述方法包括:显示第一楼栋和第二楼栋,所述第一楼栋上设置有第一拼合基准线,所述第二楼栋上设置有第二拼合基准线;接收对所述第一楼栋的第一输入,所述第一输入用于调整所述第一楼栋的位置;响应于所述第一输入,基于所述第一拼合基准线和所述第二拼合基准线,拼合所述第一楼栋和所述第二楼栋后,显示拼合后的楼型的轮廓;所述方法还包括:分别识别第一楼栋的轮廓线、第一拼合基准线、第二楼栋的轮廓线、第二拼合基准线,得到第一楼栋轮廓线的端点、第一楼栋的轮廓线与第一拼合基准线的交点、第二楼栋轮廓线的端点、第二楼栋的轮廓线与第二拼合基准线的交点;所述响应于所述第一输入,基于所述第一拼合基准线和所述第二拼合基准线,拼合所述第一楼栋和所述第二楼栋后,显示拼合后的楼型的轮廓,包括:将第一楼栋中靠近第二楼栋的一侧,沿第一拼合基准线剔除;将第二楼栋中靠近第一楼栋的一侧,沿第二拼合基准线剔除;将第一拼合基准线和第二拼合基准线对齐;基于剔除后剩余的第一楼栋轮廓线上的端点、第一楼栋的轮廓线与第一拼合基准线的交点、剩余的第二楼栋轮廓线上的端点、第二楼栋的轮廓线与第二拼合基准线的交点,生成拼合后的楼型的轮廓;显示拼合后的楼型的轮廓。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳须弥云图空间科技有限公司 楼型拼合方法、装置、设备及存储介质

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