申请/专利权人：常州银河世纪微电子股份有限公司

申请日：2023-07-21

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN220795393U

主分类号：G01R31/26

分类号：G01R31/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权

摘要：本实用新型提供一种MOS器件的测试系统，包括：上位机；电机；数据采集装置，所述数据采集装置与所述上位机相连，所述数据采集装置用于采集所述MOS器件的工作参数和所述电机的输出扭矩并传输至所述上位机；电机驱动装置，所述电机驱动装置与所述数据采集装置和所述上位机相连，所述电机驱动装置用于驱动所述电机运转；电机负载装置，所述电机负载装置与所述数据采集装置、电机和电机驱动装置相连，所述电机负载装置用于调节所述电机的负载阻力大小。本实用新型能够在线实时测量MOS器件的工作参数，从而验证MOS器件在应用场景下的可靠性，以提高产品质量。

主权项：1.一种MOS器件的测试系统，其特征在于，包括：上位机；电机；数据采集装置，所述数据采集装置与所述上位机相连，所述数据采集装置用于采集所述MOS器件的工作参数和所述电机的输出扭矩并传输至所述上位机；电机驱动装置，所述电机驱动装置与所述数据采集装置和所述上位机相连，所述电机驱动装置用于驱动所述电机运转；电机负载装置，所述电机负载装置与所述数据采集装置、电机和电机驱动装置相连，所述电机负载装置用于调节所述电机的负载阻力大小。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 常州银河世纪微电子股份有限公司 MOS器件的测试系统

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