申请/专利权人：上海类比半导体技术有限公司

申请日：2022-06-15

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN115078968A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要：本申请实施例提供一种芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统，该芯片测试电路包括：控制模块，模式生成模块，激励生成模块和检测模块。控制模块根据外部设备发来的测试信号生成激励源和测试模式信号，激励生成模块模块根据激励源生成激励信号并作用于被测试芯片的模拟电路模块，模式生成模块根据测试模式信号生成测试模式并作用于被测试芯片的数字电路模块，检测模块可以根据数字电路模块的第一测试结果得到第一运行状态，并根据模拟电路模块的第二测试结果得到第二运行状态，从而根据外部设备输入的测试信号，自动完成对被测试芯片的老化测试并得到测试结果，简化了测试复杂度，提高了测试效率。

主权项：1.一种芯片测试电路，其特征在于，包括：控制模块、模式生成模块、激励生成模块和检测模块；其中，所述控制模块，用于接收来自外部设备的测试信号；根据所述测试信号，生成激励源和测试模式信号；将所述激励源输出至所述激励生成模块，并将所述测试模式信号输出至所述模式生成模块；所述模式生成模块，用于接收所述测试模式信号，并根据所述测试模式信号生成测试模式，并输出至被测试芯片的数字电路模块；所述激励生成模块，用于接收所述激励源，并根据所述激励源生成激励信号，并输出至所述被测试芯片的模拟电路模块；所述检测模块，用于接收来自所述被测试芯片的数字电路模块的第一测试结果，以及来自所述被测试芯片的模拟电路模块的第二测试结果；根据所述第一测试结果，得到所述数字电路模块的第一运行状态，根据所述第二测试结果得到所述模拟电路模块的第二运行状态；将所述第一运行状态和所述第二运行状态输出至所述外部设备。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海类比半导体技术有限公司 芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统

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