申请/专利权人：北京登临科技有限公司

申请日：2022-04-13

公开（公告）日：2022-11-25

公开（公告）号：CN217901944U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.11.25#授权

摘要：本申请属于测试技术领域，公开了一种测试控制基板及芯片测试系统，该方法包括，测试控制基板为包括控制模块和通信模块的基板；控制模块，与通信模块连接，用于向通信模块发送测试命令，并接收通信模块返回的测试命令执行结果；通信模块，用于与待测试的目标芯片适配的芯片测试基板连接，将测试命令发送至芯片测试基板，并将芯片测试基板返回的测试命令执行结果发送至控制模块；其中，芯片测试基板为包括与目标芯片适配的芯片连接器的基板，用于针对芯片连接器连接的目标芯片执行测试命令，获得测试命令执行结果。这样，测试控制基板不需要随着芯片的迭代更新改变，可以与不同的芯片测试基板连接以进行芯片测试，降低了测试成本。

主权项：1.一种测试控制基板，其特征在于，所述测试控制基板为包括控制模块和通信模块的基板；所述控制模块，与所述通信模块连接，用于向所述通信模块发送测试命令，并接收所述通信模块返回的测试命令执行结果；所述通信模块，用于与待测试的目标芯片适配的芯片测试基板连接，将所述测试命令发送至所述芯片测试基板，并将所述芯片测试基板返回的所述测试命令执行结果发送至所述控制模块；其中，所述芯片测试基板为包括与所述目标芯片适配的芯片连接器的基板，用于针对所述芯片连接器连接的所述目标芯片执行所述测试命令，获得所述测试命令执行结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京登临科技有限公司 一种测试控制基板及芯片测试系统

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