申请/专利权人：贺利氏石英北美有限责任公司

申请日：2022-02-25

公开（公告）日：2023-10-03

公开（公告）号：CN116848389A

主分类号：G01M11/00

分类号：G01M11/00

优先权：["20210226 US 17/186,907"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.10.24#实质审查的生效;2023.10.03#公开

摘要：本发明提供了一种用于当预成型件的折射率分布基本上不是阶跃折射率样时确定该RIP的方法。a测量预成型件偏转函数并将其变换成测量RIP。b假定被评估的预成型件层的RI水平和半径并计算补偿水平RIP。c生成对应于所假定的RI水平和半径的理论偏转函数并将所生成的数据变换成拟合RIP。d将该拟合RIP与该测量RIP比较并对照被评估的该预成型件层的预定准确度水平评估该比较。e迭代地重复步骤b和c，直至已经实现该预定准确度水平。对于需要补偿的每个预成型件层重复步骤b至e。最后，计算该预成型件的测量伪影补偿的折射率分布。

主权项：1.一种用于确定物体的径向折射率分布的方法，所述方法包括：a提供所述物体，所述物体包括圆柱形光学物体，所述圆柱形光学物体具有圆柱体纵向轴线，具有层半径rk且具有层折射率nk的至少一个层k围绕所述圆柱体纵向轴线径向延伸，其中所述至少一个层基本上不是阶跃折射率的；b测量所述物体的偏转函数并将所测量的数据变换成测量折射率分布；c假定被评估的所述物体的所述层的折射率水平和半径并计算补偿水平折射率分布；d生成对应于所假定的折射率水平和半径的理论偏转函数并将所生成的数据变换成拟合折射率分布；e将所述拟合折射率分布与所述测量折射率分布进行比较并对照被评估的所述物体的所述层的预定准确度水平评估所述比较；f迭代地重复步骤c和d，直至已经实现所述预定准确度水平；g确定所述物体是否具有要评估和补偿的另一个层；h对于所述物体的每个层重复步骤c至f，直至所述物体没有另外的层仍待评估和补偿；以及i计算所述物体的测量伪影补偿的折射率分布。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 贺利氏石英北美有限责任公司 具有非阶跃折射率折射率分布（RIP）的预成型件的改善的评估

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